测试时间优化如果您在半导体行业（或任何对产品进行大量测试的行业）工作，那么减少测试时间是降低制造运营成本的主要组成部分。 半导体测试时间很昂贵，并且预计增加，对半导体器件的总制造成本贡献很大。 减少测试时间将转化为大量节省，特别是对于大批量和复杂的产品。
虽然有专门的软件可用于完成此任务，但我想演示如何使用自定义插件在 JMP 中执行此任务。插件允许用户将 JMP 开箱即用的功能扩展到自定义应用程序中。 这是通过 JMP 脚本完成的，您可以使用它创建任何类型的自定义功能。 要安装此插件，请下载 .jmpaddin 文件以及两个示例 .jmp 文件，然后使用 JMP（文件 > 打开）打开 .jmpaddin 文件。 使用 JMP 打开 .jmpaddin 文件将安装它，并且可以从 JMP 的插件菜单访问该插件。
此插件需要两组数据：.jmp 数据表格式的运行错误 (ROE) 测试数据和测试时间数据。 错误运行是必需的，这样优化器插件可以确定哪些测试具有重叠的测试覆盖率，并结合测试时间使用它来确定最佳测试顺序。 此优化不适用于 stop-on-fail 测试数据。 本博客所附的 .jmp 文件是 ROE 和测试时间数据表所需格式的示例。 （笔记： ROE 数据需要有值 1 表示测试失败，0 表示测试通过每行是一个不同的单元被测试）。
读我的测试时间优化化博客查看我如何将 .jmp 文件与插件一起使用。如果您对测试时间优化器加载项有任何疑问，请在下方评论或通过电子邮件与我联系（ mark.zwald@jmp.com ).
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