반도체 산업(또는 제품에 대한 광범위한 테스트가 수행되는 모든 산업)에 종사하는 경우 테스트 시간을 줄이는 것이 제조 운영 비용을 줄이는 데 중요한 요소입니다. 반도체 테스트 시간이 비싸고, 증가할 것으로 예상 , 반도체 장치의 총 제조 비용에 상당한 양을 기여합니다. 테스트 시간을 줄이면 특히 대량 생산 및 복잡한 제품의 경우 많은 비용을 절약할 수 있습니다.
이 작업을 수행하는 데 사용할 수 있는 특수 소프트웨어가 있지만 맞춤형 추가 기능을 사용하여 JMP에서 수행할 수 있는 방법을 보여주고 싶었습니다.추가 기능을 통해 사용자는 JMP가 즉시 수행할 수 있는 기능을 사용자 지정 응용 프로그램으로 확장할 수 있습니다. 이것은 JMP 스크립팅을 통해 수행되며 이를 통해 모든 유형의 사용자 정의 기능을 생성할 수 있습니다. 이 추가 기능을 설치하려면 두 개의 샘플 .jmp 파일과 함께 .jmpaddin 파일을 다운로드하고 JMP로 .jmpaddin 파일을 엽니다(파일 > 열기). JMP로 .jmpaddin 파일을 열면 파일이 설치되고 추가 기능은 JMP의 추가 기능 메뉴에서 액세스할 수 있습니다.
이 추가 기능에는 ROE(run-on-error) 테스트 데이터와 .jmp 데이터 테이블 형식의 테스트 시간 데이터라는 두 가지 데이터 세트가 필요합니다. 옵티마이저 추가 기능이 겹치는 테스트 적용 범위가 있는 테스트를 확인하고 이를 테스트 시간과 결합하여 사용하여 최적의 테스트 순서를 결정할 수 있도록 오류 발생 시 실행이 필요합니다. 이 최적화는 stop-on-fail 테스트 데이터에서 작동하지 않습니다. 이 블로그에 첨부된 .jmp 파일은 ROE 및 테스트 시간 데이터 테이블에 필요한 형식의 예입니다. (메모: ROE 데이터에는 테스트 실패를 나타내는 1 값과 테스트 통과를 나타내는 0 값이 있어야 합니다. 각 행은 테스트 중인 다른 단위임).
내 읽기 테스트 시간 최적화 블로그 추가 기능과 함께 .jmp 파일을 사용한 방법을 확인합니다.테스트 시간 최적화 추가 기능에 대해 질문이 있는 경우 아래에 의견을 남기거나 이메일( mark.zwald@jmp.com ).
