如果您在半導體行業（或對產品進行大量測試的任何行業）工作，那麼減少測試時間是降低製造營運成本的主要組成部分。半導體測試時間非常昂貴，並且預計還會增加，從而在半導體裝置的總製造成本中佔據很大一部分。減少測試時間將轉化為大量節省，特別是對於大批量和複雜的產品。
雖然有專門的軟體可以完成此任務，但我想示範如何使用可透過兩個範例檔案提供的自訂測試時間優化插件在 JMP 中執行此任務。插件允許用戶將 JMP 開箱即用的功能擴展到自訂應用程式中。這是透過 JMP 腳本完成的，您可以使用它來建立任何類型的自訂功能。我鼓勵您下載並安裝該外掛程式並親自嘗試使用 JMP。
此插件需要兩組資料：.jmp 資料表格式的運行錯誤 (ROE) 測試資料和測試時間資料。需要運行錯誤，以便優化器插件可以確定哪些測試具有重疊的測試覆蓋範圍，並將其與測試時間結合起來確定最佳測試順序。此最佳化不適用於故障停止測試資料。本部落格所附的 .jmp 檔案是 ROE 和測試時間資料表所需的格式範例（注意： ROE 資料需要具有值 1 表示測試失敗，0 表示測試通過，並且每一行都是不同的被測試單元）。
從 JMP 的插件選單運行插件後，它將提示您指定測試資料檔案所在的路徑。從那裡您將指定包含執行錯誤測試結果的 .jmp 檔案和包含每個測試的測試時間的 .jmp 檔案。按一下「確定」將產生以下報告。
該報告在頂部指定了完整測試時間（運行完整測試流程的時間）和優化測試時間（運行最佳流程的時間）以及減少時間。在此範例中，完整測試流程需要 300 秒，最佳流程需要 143 秒，導致測試時間減少 52%。根據提供的 ROE 數據，報告的測試時間減少不會導致任何測試逃逸，因此 52% 的減少不會對運送給客戶的產品品質產生影響。
這些圖表總結了最佳測試流程的數據。左上角的圖表在 x 軸上顯示最佳流程順序以及流程的累積測試時間和累積失敗百分比。該加載項將找到每秒失敗率最高的測試，並在流程中優先考慮該測試。該過程將持續進行，直到 100% 的所有故障單元均已解決。在這個範例中，完整流程中有 58 個測試，最優流程已減少到圖中所示的 28 個測試（您也可以參考由外掛程式建立的資料表「optimal_test_order.jmp」）儲存到指定路徑）。由於測試經常具有重疊的測試覆蓋範圍，因此通常可以刪除相關測試而不影響品質；透過按故障/秒指標對測試進行排序，您可以在生產故障停止測試期間更快地捕獲故障。
如果希望進一步減少超出最佳流量的測試時間，則可以使用右上方視覺效果中顯示的曲線。此曲線將測試覆蓋率與測試時間連結起來，並顯示進一步減少測試時間將影響多少測試覆蓋率。請注意，超出最佳流程的任何進一步的測試減少都會因測試逃逸而導致一些品質影響。因此，在此範例中，如果我們要刪除測試18、測試11 和測試33，我們將進一步將測試時間從143 秒減少到127 秒，但對品質的影響將是99.5% 的測試覆蓋率（或測試的0.5%）單位轉義）而不是 100% 測試覆蓋率。為了確定這種權衡，您必須評估額外 16 秒測試時間節省的資金與 0.5% 測試逃脫率相關的成本。
我要感謝@HydeMiller在開發該外掛時提供的巨大幫助。
如果您有疑問，請在部落格文章中發表評論或透過電子郵件與我聯繫 ( mark.zwald@jmp.com )。
