Si trabaja en la industria de los semiconductores (o en cualquier industria donde se realizan pruebas exhaustivas en los productos), reducir el tiempo de prueba es un componente importante para reducir los costos operativos de fabricación. El tiempo de prueba de semiconductores es costoso y se prevé que aumente , lo que contribuirá en una cantidad significativa al costo total de fabricación de un dispositivo semiconductor. Reducir el tiempo de prueba se traducirá en grandes ahorros, especialmente para productos complejos y de gran volumen.
Si bien hay software especializado disponible para realizar esta tarea, quería demostrar cómo se puede realizar en JMP utilizando un complemento personalizado de optimización del tiempo de prueba que está disponible con dos archivos de muestra. Los complementos permiten a los usuarios ampliar la funcionalidad de lo que JMP puede hacer de forma inmediata a aplicaciones personalizadas. Esto se logra mediante secuencias de comandos JMP y con ellas puede crear cualquier tipo de funcionalidad personalizada. Le recomiendo que descargue e instale el complemento y lo pruebe usted mismo con JMP.
Este complemento requiere dos conjuntos de datos: datos de prueba de ejecución en caso de error (ROE) y datos de tiempo de prueba en el formato de tabla de datos .jmp. Se requiere ejecución en caso de error para que el complemento optimizador pueda determinar qué pruebas tienen una cobertura de prueba superpuesta y usarla, combinada con los tiempos de prueba, para determinar el orden de prueba óptimo. Esta optimización no funcionará con datos de prueba de parada en caso de error. Los archivos .jmp adjuntos a este blog son ejemplos del formato requerido para las tablas de datos de tiempo de prueba y ROE (Nota: los datos de ROE deben tener valores de 1 que represente una prueba fallida y 0 que represente una prueba aprobada y cada fila es diferente unidad que se está probando).
Al ejecutar el complemento desde el menú de complementos de JMP, le pedirá que especifique la ruta donde residen los archivos de datos de prueba. Desde allí, especificará el archivo .jmp que contiene los resultados de la prueba de ejecución en caso de error y el archivo .jmp que contiene los tiempos de prueba para cada prueba. Al hacer clic en Aceptar se generará el siguiente informe.
El informe especifica el tiempo de prueba completo (tiempo para ejecutar el flujo de prueba completo) y el tiempo de prueba optimizado (tiempo para ejecutar el flujo óptimo) en la parte superior junto con la reducción. En este ejemplo, el flujo de prueba completo tarda 300 segundos y el flujo óptimo tarda 143 segundos, lo que da como resultado una reducción del 52 % en el tiempo de prueba. La reducción del tiempo de prueba informada no da como resultado ningún escape de prueba según los datos de ROE proporcionados , por lo que la reducción del 52% no tiene ningún impacto en la calidad del producto que se envía a los clientes.
Los gráficos resumen los datos del flujo de prueba óptimo. Los gráficos de la parte superior izquierda muestran el orden de flujo óptimo en el eje x junto con el tiempo de prueba acumulado y el porcentaje de falla acumulada del flujo. El complemento encontrará la prueba con la métrica de error por segundo más alta y priorizará esa prueba en el flujo. El proceso continúa hasta que se contabilicen el 100% de todas las unidades defectuosas. En este ejemplo, hubo 58 pruebas en el flujo completo y el flujo óptimo se redujo a las 28 pruebas que se muestran en el gráfico (también puede consultar la tabla de datos "optimal_test_order.jmp" que crea el complemento y guardado en la ruta especificada). Debido a que las pruebas a menudo tienen una cobertura de prueba superpuesta, a menudo es posible eliminar pruebas correlacionadas sin impacto en la calidad; y al ordenar las pruebas por su métrica de fallas/segundos, puede detectar fallas más rápido durante las pruebas de parada en caso de falla de producción.
Si existe el deseo de reducir aún más el tiempo de prueba más allá del flujo óptimo, entonces esa es la curva que se muestra en la imagen superior derecha. Esta curva relaciona la cobertura de la prueba con el tiempo de la prueba y muestra cuánto se vería afectada la cobertura de la prueba si se redujera aún más el tiempo de la prueba. Tenga en cuenta que cualquier reducción adicional de la prueba más allá del flujo óptimo tendrá como resultado algún impacto en la calidad debido a fugas de prueba. Entonces, en este ejemplo, si elimináramos la Prueba 18, la Prueba 11 y la Prueba 33, reduciríamos aún más el tiempo de prueba de 143 a 127 segundos, pero el impacto en la calidad sería una cobertura de prueba del 99,5% (o 0,5% de la prueba). unidades que se escapan) en lugar de una cobertura de prueba del 100 %. Para determinar esta compensación, tendría que evaluar el dinero ahorrado con 16 segundos adicionales de tiempo de prueba versus el costo asociado con una tasa de escape de prueba del 0,5 %.
Quiero agradecer a @HydeMiller por su gran ayuda en el desarrollo del complemento.
Si tiene preguntas, comente la publicación del blog o contácteme por correo electrónico ( mark.zwald@jmp.com ).
