Si vous travaillez dans l'industrie des semi-conducteurs (ou dans toute autre industrie où des tests approfondis sont effectués sur les produits), la réduction du temps de test est un élément majeur pour réduire les coûts opérationnels de fabrication. Le temps de test des semi-conducteurs est coûteux et devrait augmenter , contribuant ainsi pour une part significative au coût total de fabrication d'un dispositif semi-conducteur. La réduction du temps de test se traduira par d’importantes économies, en particulier pour les produits complexes et à volume élevé.
Bien qu'il existe un logiciel spécialisé disponible pour accomplir cette tâche, je souhaitais démontrer comment cela pouvait être effectué dans JMP à l'aide d'un complément d'optimisation du temps de test personnalisé disponible avec deux exemples de fichiers. Les compléments permettent aux utilisateurs d'étendre les fonctionnalités de ce que JMP peut faire dès le départ dans des applications personnalisées. Ceci est accompli via les scripts JMP et avec eux, vous pouvez créer tout type de fonctionnalité personnalisée. Je vous encourage à télécharger et installer le complément et à l'essayer vous-même avec JMP.
Ce complément nécessite deux ensembles de données : les données de test d'exécution sur erreur (ROE) et les données de durée de test au format de table de données .jmp. L'exécution sur erreur est requise pour que le complément d'optimisation puisse déterminer quels tests ont une couverture de test qui se chevauche et l'utiliser, en combinaison avec les temps de test, pour déterminer l'ordre optimal des tests. Cette optimisation ne fonctionnera pas avec les données de test d'arrêt en cas d'échec. Les fichiers .jmp joints à ce blog sont des exemples du format requis pour les tableaux de données ROE et de temps de test (Remarque : les données ROE doivent avoir des valeurs de 1 représentant un échec de test et 0 représentant une réussite du test et chaque ligne est une valeur différente. unité en cours de test).
Lors de l'exécution du complément à partir du menu Complément de JMP, il vous demandera de spécifier le chemin où résident les fichiers de données de test. À partir de là, vous spécifierez le fichier .jmp qui contient les résultats des tests d'exécution sur erreur et le fichier .jmp qui contient les temps de test pour chaque test. En cliquant sur OK, vous générerez le rapport suivant.
Le rapport spécifie la durée complète du test (durée d'exécution du flux de test complet) et la durée de test optimisée (durée d'exécution du flux optimal) en haut, ainsi que la réduction. Dans cet exemple, le flux de test complet prend 300 secondes et le flux optimal prend 143 secondes, ce qui entraîne une réduction de 52 % de la durée du test. La réduction du temps de test signalée n'entraîne aucun échappement de test sur la base des données ROE fournies , donc la réduction de 52 % n'a aucun impact sur la qualité des produits expédiés aux clients.
Les graphiques résument les données du flux de test optimal. Les graphiques en haut à gauche montrent l'ordre de flux optimal sur l'axe des X ainsi que la durée de test cumulée et le % d'échec cumulé du flux. Le complément recherchera le test avec la métrique d’échec par seconde la plus élevée et donnera la priorité à ce test dans le flux. Le processus se poursuit jusqu'à ce que 100 % de toutes les unités défaillantes soient comptabilisées. Dans cet exemple, il y avait 58 tests dans le flux complet, et le flux optimal a été réduit aux 28 tests indiqués dans le graphique (vous pouvez également vous référer à la table de données "optimal_test_order.jmp" qui est créée par le complément et enregistré dans le chemin spécifié). Étant donné que les tests ont souvent une couverture qui se chevauche, il est souvent possible de supprimer les tests corrélés sans impact sur la qualité ; et en classant les tests en fonction de leur métrique d'échecs/s, vous êtes en mesure de détecter les échecs plus rapidement lors des tests d'arrêt en cas d'échec de la production.
Si l’on souhaite réduire davantage la durée du test au-delà du débit optimal, c’est la courbe présentée dans le visuel en haut à droite. Cette courbe relie la couverture des tests à la durée du test et montre dans quelle mesure la couverture des tests serait affectée par une réduction supplémentaire de la durée du test. Notez que toute réduction supplémentaire du test au-delà du débit optimal entraînera un certain impact sur la qualité en raison des échappements de test. Ainsi, dans cet exemple, si nous devions supprimer les tests 18, 11 et 33, nous réduirions encore la durée du test de 143 à 127 secondes, mais l'impact sur la qualité serait de 99,5 % de couverture de test (ou 0,5 % de la durée testée). unités s'échappant) plutôt qu'une couverture de test à 100 %. Pour déterminer ce compromis, vous devrez évaluer l'argent économisé grâce à 16 secondes supplémentaires de temps de test par rapport au coût associé à un taux d'évasion de test de 0,5 %.
Je tiens à remercier @HydeMiller pour sa grande aide dans le développement du complément.
Si vous avez des questions, veuillez commenter l'article de blog ou me contacter par e-mail ( mark.zwald@jmp.com ).
