如果您在半導體行業（或任何對產品進行大量測試的行業）工作，那麼減少測試時間是降低製造運營成本的主要組成部分。 半導體測試時間很昂貴，並且預計增加，對半導體器件的總製造成本貢獻很大。 減少測試時間將轉化為大量節省，特別是對於大批量和復雜的產品。
雖然有專門的軟件可用於完成此任務，但我想演示如何使用自定義插件在 JMP 中執行此任務，該插件可從這篇博文中下載。插件允許用戶將 JMP 開箱即用的功能擴展到自定義應用程序中。 這是通過 JMP 腳本完成的，您可以使用它創建任何類型的自定義功能。 要安裝此插件，請下載 .jmpaddin 文件以及兩個示例 .jmp 文件，然後使用 JMP（文件 > 打開）打開 .jmpaddin 文件。 使用 JMP 打開 .jmpaddin 文件將安裝它，並且可以從 JMP 的插件菜單訪問該插件。
此插件需要兩組數據：.jmp 數據表格式的運行錯誤 (ROE) 測試數據和測試時間數據。 錯誤運行是必需的，這樣優化器插件可以確定哪些測試具有重疊的測試覆蓋率，並結合測試時間使用它來確定最佳測試順序。 此優化不適用於 stop-on-fail 測試數據。 本博客所附的 .jmp 文件是 ROE 和測試時間數據表所需格式的示例（注意： ROE 數據需要有值 1 表示測試失敗，0 表示測試通過每行是一個不同的單元被測試）。
從 JMP 的插件菜單運行插件後，它會提示您指定測試數據文件所在的路徑。 從那裡您將指定包含錯誤運行測試結果的 .jmp 文件和包含每個測試的測試時間的 .jmp 文件。單擊“確定”將生成以下報告。
該報告在頂部指定了完整測試時間（運行完整測試流程的時間）和優化測試時間（運行最佳流程的時間）以及減少量。在此示例中，完整的測試流程需要 300 秒，而最佳流程需要 143 秒，從而使測試時間減少了 52%。根據提供的 ROE 數據，報告的測試時間減少不會導致任何測試逃逸，因此減少 52% 不會影響運送給客戶的產品質量。 這些圖總結了來自最佳測試流程的數據。 左上圖在 x 軸上顯示了最佳流程順序以及流程的累積測試時間和累積失敗百分比。 加載項將找到每秒失敗率最高的測試，並在流程中優先考慮該測試。 該過程一直持續到所有故障單元的 100% 都被解決為止。 本例中全流程有58個測試，最優流程已經縮減為圖中所示的28個測試（也可以參考插件創建的數據表“optimal_test_order.jmp”和保存到指定路徑）。 由於測試經常有重疊的測試覆蓋，通常可以在不影響質量的情況下刪除相關測試；通過按失敗/秒指標對測試進行排序，您可以在生產失敗時停止測試期間更快地發現失敗。
如果希望在最佳流量之外進一步減少測試時間，那就是右上角視覺圖中顯示的曲線。 該曲線將測試覆蓋率與測試時間相關聯，並顯示了進一步減少測試時間會影響多少測試覆蓋率。請注意，超出最佳流程的任何進一步測試減少都會由於測試逃逸而導致一些質量影響。因此，在此示例中，如果我們要刪除測試 18、測試 11 和測試 33，我們會進一步將測試時間從 143 秒減少到 127 秒，但對質量的影響將是 99.5% 的測試覆蓋率（或 0.5% 的測試單位轉義）而不是 100% 的測試覆蓋率。 要確定這種權衡，您必須評估從額外的 16 秒測試時間節省的資金與 0.5% 的測試逃逸率相關的成本。
我要感謝@海德米勒感謝他在開發插件方面的巨大幫助。
如果您對測試時間優化器加載項有任何疑問，請在博文中發表評論或通過電子郵件與我聯繫（ mark.zwald@jmp.com ).
