Wenn Sie in der Halbleiterindustrie arbeiten (oder in einer anderen Branche, in der umfangreiche Tests an Produkten durchgeführt werden), ist die Reduzierung der Testzeit eine wichtige Komponente zur Reduzierung der Betriebskosten für die Fertigung. Halbleitertestzeit ist teuer, und voraussichtlich zunehmen , was einen erheblichen Betrag zu den Gesamtherstellungskosten einer Halbleitervorrichtung beiträgt. Die Reduzierung der Testzeit führt zu großen Einsparungen, insbesondere bei hochvolumigen und komplexen Produkten.
Es gibt zwar spezialisierte Software, um diese Aufgabe zu erledigen, aber ich wollte zeigen, wie sie in JMP mit einem benutzerdefinierten Add-In durchgeführt werden kann, das in diesem Blogbeitrag heruntergeladen werden kann.Add-Ins ermöglichen es Benutzern, die Funktionalität dessen, was JMP sofort einsatzbereit macht, auf benutzerdefinierte Anwendungen zu erweitern. Dies wird durch JMP-Skripting erreicht, und damit können Sie jede Art von benutzerdefinierter Funktionalität erstellen. Um dieses Add-In zu installieren, laden Sie die .jmpaddin-Datei zusammen mit den beiden .jmp-Beispieldateien herunter und öffnen Sie die .jmpaddin-Datei mit JMP (Datei > Öffnen). Durch Öffnen der .jmpaddin-Datei mit JMP wird sie installiert und das Add-in ist über das Add-ins-Menü von JMP zugänglich.

Dieses Add-In erfordert zwei Datensätze: Run-on-Error (ROE)-Testdaten und Testzeitdaten im .jmp-Datentabellenformat. Run-on-Error ist erforderlich, damit das Optimierer-Add-In bestimmen kann, welche Tests eine überlappende Testabdeckung aufweisen, und dies in Kombination mit den Testzeiten verwenden kann, um die optimale Testreihenfolge zu bestimmen. Diese Optimierung funktioniert nicht mit Stop-on-Fail-Testdaten. Die diesem Blog beigefügten .jmp-Dateien sind Beispiele für das Format, das für die ROE- und Testzeitdatentabellen erforderlich ist (Hinweis: Die ROE-Daten müssen Werte von 1 aufweisen, die einen Testfehler darstellen, und 0, die einen Testbestand darstellen und jede Zeile ist eine andere zu testende Einheit).
Beim Ausführen des Add-Ins über das Add-In-Menü von JMP werden Sie aufgefordert, den Pfad anzugeben, in dem sich die Testdatendateien befinden. Von dort aus geben Sie die .jmp-Datei an, die die Run-on-Error-Testergebnisse enthält, und die .jmp-Datei, die die Testzeiten für jeden Test enthält.Wenn Sie auf OK klicken, wird der folgende Bericht generiert.

Der Bericht gibt die vollständige Testzeit (Zeit zum Ausführen des vollständigen Testflusses) und die optimierte Testzeit (Zeit zum Ausführen des optimalen Flusses) oben zusammen mit der Reduzierung an.In diesem Beispiel dauert der vollständige Testablauf 300 Sekunden und der optimale Ablauf 143 Sekunden, was zu einer Reduzierung der Testzeit um 52 % führt.Die gemeldete Testzeitverkürzung führt basierend auf den gelieferten ROE-Daten nicht zu Testausfällen , sodass die Reduzierung um 52 % keine Auswirkungen auf die Produktqualität beim Versand an die Kunden hat. Die Diagramme fassen die Daten des optimalen Testflusses zusammen. Die Diagramme oben links zeigen die optimale Flussreihenfolge auf der x-Achse zusammen mit der kumulativen Testzeit und dem kumulativen Fehlerprozentsatz des Flusses. Das Add-In findet den Test mit der höchsten Fehlerrate pro Sekunde und priorisiert diesen Test im Ablauf. Der Prozess wird fortgesetzt, bis 100 % aller fehlerhaften Einheiten erfasst sind. In diesem Beispiel gab es 58 Tests im vollständigen Ablauf, und der optimale Ablauf wurde auf die 28 im Diagramm gezeigten Tests reduziert (Sie können auch auf die Datentabelle "optimal_test_order.jmp" verweisen, die vom Add-In und erstellt wird im angegebenen Pfad gespeichert). Da sich Tests oft überlappen, ist es oft möglich, korrelierte Tests ohne Qualitätseinbußen zu entfernen; und indem Sie die Tests nach ihrer Fehler/Sek.-Metrik anordnen, können Sie Fehler während der Stop-on-Fail-Tests in der Produktion schneller erkennen.
Wenn der Wunsch besteht, die Testzeit über den optimalen Fluss hinaus weiter zu verkürzen, dann ist dies die Kurve, die im Bild oben rechts gezeigt wird. Diese Kurve bezieht die Testabdeckung auf die Testzeit und zeigt, wie stark die Testabdeckung durch eine weitere Reduzierung der Testzeit beeinflusst würde.Beachten Sie, dass jede weitere Testreduzierung über den optimalen Fluss hinaus zu einer gewissen Beeinträchtigung der Qualität aufgrund von Testausbrüchen führt.Wenn wir also in diesem Beispiel Test 18, Test 11 und Test 33 entfernen würden, würden wir die Testzeit weiter von 143 auf 127 Sekunden reduzieren, aber die Auswirkungen auf die Qualität wären 99,5 % der Testabdeckung (oder 0,5 % der getesteten Escape-Einheiten) statt 100 % Testabdeckung. Um diesen Kompromiss zu ermitteln, müssten Sie das Geld, das durch zusätzliche 16 Sekunden Testzeit eingespart wird, mit den Kosten vergleichen, die mit einer Test-Escape-Rate von 0,5 % verbunden sind.
ich möchte danken @HydeMiller für seine großartige Hilfe bei der Entwicklung des Add-Ins.
Wenn Sie Fragen zum Testzeitoptimierungs-Add-In haben, kommentieren Sie bitte den Blogbeitrag oder kontaktieren Sie mich per E-Mail ( mark.zwald@jmp.com ).