如果您在半导体行业（或任何对产品进行大量测试的行业）工作，那么减少测试时间是降低制造运营成本的主要组成部分。 半导体测试时间很昂贵，并且预计增加，对半导体器件的总制造成本贡献很大。 减少测试时间将转化为大量节省，特别是对于大批量和复杂的产品。
虽然有专门的软件可用于完成此任务，但我想演示如何使用自定义插件在 JMP 中执行此任务，该插件可从这篇博文中下载。插件允许用户将 JMP 开箱即用的功能扩展到自定义应用程序中。 这是通过 JMP 脚本完成的，您可以使用它创建任何类型的自定义功能。 要安装此插件，请下载 .jmpaddin 文件以及两个示例 .jmp 文件，然后使用 JMP（文件 > 打开）打开 .jmpaddin 文件。 使用 JMP 打开 .jmpaddin 文件将安装它，并且可以从 JMP 的插件菜单访问该插件。
此插件需要两组数据：.jmp 数据表格式的运行错误 (ROE) 测试数据和测试时间数据。 错误运行是必需的，这样优化器插件可以确定哪些测试具有重叠的测试覆盖率，并结合测试时间使用它来确定最佳测试顺序。 此优化不适用于 stop-on-fail 测试数据。 本博客所附的 .jmp 文件是 ROE 和测试时间数据表所需格式的示例（注意： ROE 数据需要有值 1 表示测试失败，0 表示测试通过每行是一个不同的单元被测试）。
从 JMP 的插件菜单运行插件后，它会提示您指定测试数据文件所在的路径。 从那里您将指定包含错误运行测试结果的 .jmp 文件和包含每个测试的测试时间的 .jmp 文件。单击“确定”将生成以下报告。
该报告在顶部指定了完整测试时间（运行完整测试流程的时间）和优化测试时间（运行最佳流程的时间）以及减少量。在此示例中，完整的测试流程需要 300 秒，而最佳流程需要 143 秒，从而使测试时间减少了 52%。根据提供的 ROE 数据，报告的测试时间减少不会导致任何测试逃逸，因此减少 52% 不会影响运送给客户的产品质量。 这些图总结了来自最佳测试流程的数据。 左上图在 x 轴上显示了最佳流程顺序以及流程的累积测试时间和累积失败百分比。 加载项将找到每秒失败率最高的测试，并在流程中优先考虑该测试。 该过程一直持续到所有故障单元的 100% 都被解决为止。 在这个例子中，全流程有58个测试，最优流程已经减少到图中所示的28个测试（您也可以参考插件创建的数据表“optimal_test_order.jmp”和保存到指定路径）。 由于测试经常有重叠的测试覆盖，通常可以在不影响质量的情况下删除相关测试；通过按失败/秒指标对测试进行排序，您可以在生产失败时停止测试期间更快地发现失败。
如果希望在最佳流量之外进一步减少测试时间，那就是右上角视觉图中显示的曲线。 该曲线将测试覆盖率与测试时间相关联，并显示了进一步减少测试时间会影响多少测试覆盖率。请注意，超出最佳流程的任何进一步测试减少都会由于测试逃逸而导致一些质量影响。因此，在此示例中，如果我们要删除测试 18、测试 11 和测试 33，我们会进一步将测试时间从 143 秒减少到 127 秒，但对质量的影响将是 99.5% 的测试覆盖率（或 0.5% 的测试单位转义）而不是 100% 的测试覆盖率。 要确定这种权衡，您必须评估从额外的 16 秒测试时间节省的资金与 0.5% 的测试逃逸率相关的成本。
我要感谢@海德米勒感谢他在开发插件方面的巨大帮助。
如果您对测试时间优化器加载项有任何疑问，请在博文中发表评论或通过电子邮件与我联系（ mark.zwald@jmp.com ).
