Si vous travaillez dans l'industrie des semi-conducteurs (ou dans toute industrie où des tests approfondis sont effectués sur les produits), la réduction du temps de test est un élément majeur pour réduire les coûts opérationnels de fabrication. Le temps de test des semi-conducteurs est coûteux et devrait augmenter , contribuant de manière significative au coût de fabrication total d'un dispositif semi-conducteur. La réduction du temps de test se traduira par des économies importantes, en particulier pour les produits complexes et à volume élevé.
Bien qu'il existe un logiciel spécialisé disponible pour accomplir cette tâche, je voulais montrer comment cela pourrait être effectué dans JMP à l'aide d'un complément personnalisé disponible en téléchargement à partir de ce billet de blog.Les compléments permettent aux utilisateurs d'étendre les fonctionnalités de ce que JMP peut faire par défaut dans des applications personnalisées. Ceci est accompli grâce aux scripts JMP et avec eux, vous pouvez créer n'importe quel type de fonctionnalité personnalisée. Pour installer ce complément, téléchargez le fichier .jmpaddin avec les deux exemples de fichiers .jmp et ouvrez le fichier .jmpaddin avec JMP (Fichier > Ouvrir). L'ouverture du fichier .jmpaddin avec JMP l'installera et le complément sera accessible à partir du menu Compléments de JMP.
Ce complément nécessite deux ensembles de données : les données de test d'exécution sur erreur (ROE) et les données de temps de test au format de table de données .jmp. L'exécution sur erreur est requise pour que le complément d'optimisation puisse déterminer quels tests ont une couverture de test qui se chevauche et l'utiliser, combiné avec les temps de test, pour déterminer l'ordre de test optimal. Cette optimisation ne fonctionnera pas avec les données de test d'arrêt en cas d'échec. Les fichiers .jmp joints à ce blog sont des exemples du format requis pour le RE et les tableaux de données de temps de test (Remarque : les données ROE doivent avoir des valeurs de 1 représentant un échec au test et 0 représentant une réussite au test et chaque ligne est une unité différente testée).
Lors de l'exécution du complément à partir du menu Complément de JMP, il vous invite à spécifier le chemin d'accès aux fichiers de données de test. À partir de là, vous spécifierez le fichier .jmp qui contient les résultats des tests d'exécution sur erreur et le fichier .jmp qui contient les temps de test pour chaque test.Cliquez sur OK pour générer le rapport suivant.
Le rapport spécifie le temps de test complet (temps pour exécuter le flux de test complet) et le temps de test optimisé (temps pour exécuter le flux optimal) en haut avec la réduction.Dans cet exemple, le flux de test complet prend 300 secondes et le flux optimal prend 143 secondes, ce qui entraîne une réduction de 52 % du temps de test.La réduction du temps de test signalée n'entraîne aucun échappement au test sur la base des données ROE fournies , la réduction de 52 % n'a donc aucun impact sur la qualité des produits expédiés aux clients. Les graphiques résument les données du flux de test optimal. Les graphiques en haut à gauche montrent l'ordre de flux optimal sur l'axe des x ainsi que le temps de test cumulé et le pourcentage d'échec cumulé du flux. Le complément trouvera le test avec la métrique d'échec par seconde la plus élevée et priorisera ce test dans le flux. Le processus se poursuit jusqu'à ce que 100 % de toutes les unités défaillantes soient prises en compte. Dans cet exemple, il y avait 58 tests dans le flux complet, et le flux optimal a été réduit aux 28 tests indiqués dans le graphique (vous pouvez également vous référer à la table de données "optimal_test_order.jmp" qui est créée par le complément et enregistré dans le chemin spécifié). Étant donné que les tests ont souvent une couverture de test qui se chevauche, il est souvent possible de supprimer les tests corrélés sans impact sur la qualité ; et en ordonnant les tests en fonction de leur métrique échecs/s, vous êtes en mesure de détecter les échecs plus rapidement lors des tests d'arrêt en cas d'échec de la production.
Si l'on souhaite réduire davantage le temps de test au-delà du débit optimal, il s'agit de la courbe indiquée dans le visuel en haut à droite. Cette courbe relie la couverture de test au temps de test et montre dans quelle mesure la couverture de test serait affectée par une réduction supplémentaire du temps de test.Notez que toute réduction supplémentaire du test au-delà du flux optimal entraînera un certain impact sur la qualité en raison des échappements au test.Ainsi, dans cet exemple, si nous devions supprimer le test 18, le test 11 et le test 33, nous réduirions davantage le temps de test de 143 à 127 secondes, mais l'impact sur la qualité serait une couverture de test de 99,5 % (ou 0,5 % des tests unités s'échappant) plutôt qu'une couverture de test de 100 %. Pour déterminer ce compromis, vous devez évaluer l'argent économisé grâce à 16 secondes supplémentaires de temps de test par rapport au coût associé à un taux d'échappement de 0,5 %.
je veux remercier @HydeMiller pour sa grande aide dans le développement du complément.
Si vous avez des questions sur le complément d'optimisation du temps de test, veuillez commenter le billet de blog ou me contacter par e-mail ( mark.zwald@jmp.com ).
