Se lavori nel settore dei semiconduttori (o in qualsiasi settore in cui vengono eseguiti test approfonditi sui prodotti), ridurre i tempi di test è un componente importante per ridurre i costi operativi per la produzione. Il tempo di test dei semiconduttori è costoso e destinato ad aumentare , contribuendo in misura significativa al costo totale di produzione di un dispositivo a semiconduttore. La riduzione dei tempi di test si tradurrà in grandi risparmi, soprattutto per prodotti complessi e volumi elevati.
Sebbene sia disponibile un software specializzato per eseguire questa attività, volevo dimostrare come potrebbe essere eseguita in JMP utilizzando un componente aggiuntivo personalizzato disponibile per il download da questo post del blog.I componenti aggiuntivi consentono agli utenti di estendere le funzionalità di ciò che JMP può eseguire immediatamente in applicazioni personalizzate. Ciò si ottiene tramite lo scripting JMP e con esso è possibile creare qualsiasi tipo di funzionalità personalizzata. Per installare questo componente aggiuntivo, scarica il file .jmpaddin insieme ai due file .jmp di esempio e apri il file .jmpaddin con JMP (File > Apri). L'apertura del file .jmpaddin con JMP lo installerà e il componente aggiuntivo sarà accessibile dal menu dei componenti aggiuntivi di JMP.
Questo componente aggiuntivo richiede due insiemi di dati: dati del test ROE (run-on-error) e dati dell'ora del test nel formato di tabella dati .jmp. Run-on-error è necessario in modo che il componente aggiuntivo di ottimizzazione possa determinare quali test hanno una copertura di test sovrapposta e utilizzarla, insieme ai tempi di test, per determinare l'ordine di test ottimale. Questa ottimizzazione non funzionerà con i dati dei test stop-on-fail. I file .jmp allegati a questo blog sono esempi del formato richiesto per le tabelle dei dati ROE e dei tempi di test (Nota: i dati ROE devono avere valori di 1 che rappresenta un test fallito e 0 che rappresenta un test superato e ogni riga è un'unità diversa in fase di test).
Dopo aver eseguito il componente aggiuntivo dal menu Componenti aggiuntivi di JMP, verrà richiesto di specificare il percorso in cui risiedono i file di dati del test. Da lì si specificherà il file .jmp che contiene i risultati del test run-on-error e il file .jmp che contiene i tempi del test per ciascun test.Facendo clic su OK verrà generato il seguente report.
Il report specifica il tempo di test completo (tempo per eseguire il flusso di test completo) e il tempo di test ottimizzato (tempo per eseguire il flusso ottimale) in alto insieme alla riduzione.In questo esempio, il flusso di test completo richiede 300 secondi e il flusso ottimale richiede 143 secondi, con una riduzione del 52% del tempo di test.La riduzione del tempo di test riportata non comporta alcuna fuga di test sulla base dei dati ROE forniti , quindi la riduzione del 52% non ha alcun impatto sulla qualità del prodotto spedito ai clienti. I grafici riassumono i dati del flusso di test ottimale. I grafici in alto a sinistra mostrano l'ordine di flusso ottimale sull'asse x insieme al tempo di test cumulativo e alla % di errore cumulativo del flusso. Il componente aggiuntivo troverà il test con la metrica di errore per secondo più alta e assegnerà la priorità a tale test nel flusso. Il processo continua fino a quando non viene considerato il 100% di tutte le unità guaste. In questo esempio c'erano 58 test nel flusso completo e il flusso ottimale è stato ridotto ai 28 test mostrati nel grafico (puoi anche fare riferimento alla tabella dati "optimal_test_order.jmp" creata dal componente aggiuntivo e salvato nel percorso specificato). A causa dei test che spesso hanno una copertura di test sovrapposta, è spesso possibile rimuovere i test correlati senza alcun impatto sulla qualità; e ordinando i test in base alla loro metrica di errori/sec, è possibile rilevare gli errori più rapidamente durante i test stop-on-fail della produzione.
Se si desidera ridurre ulteriormente il tempo di test oltre il flusso ottimale, questa è la curva mostrata nell'immagine in alto a destra. Questa curva mette in relazione la copertura del test con il tempo del test e mostra quanto la copertura del test verrebbe influenzata riducendo ulteriormente il tempo del test.Si noti che qualsiasi ulteriore riduzione del test oltre il flusso ottimale comporterà un certo impatto sulla qualità a causa delle fughe del test.Quindi, in questo esempio, se dovessimo rimuovere Test 18, Test 11 e Test 33, ridurremmo ulteriormente il tempo di test da 143 a 127 secondi, ma l'impatto sulla qualità sarebbe una copertura del test del 99,5% (o 0,5% del test unità in fuga) piuttosto che una copertura del test del 100%. Per determinare questo compromesso, dovresti valutare il denaro risparmiato da ulteriori 16 secondi di tempo di test rispetto al costo associato a un tasso di superamento del test dello 0,5%.
voglio ringraziare @Hyde Miller per il suo grande aiuto nello sviluppo del componente aggiuntivo.
Se hai domande sul componente aggiuntivo per l'ottimizzazione del tempo di test, commenta il post del blog o contattami tramite e-mail ( mark.zwald@jmp.com ).
