Laurence Montagner, ingeniero principal de tecnología y desarrollo, Microchip Technology Rousset
Para abordar el nuevo mercado espacial enfocado a la reducción de costos, el uso de productos COTS (circuito en los estantes) es una buena opción. Para cumplir con la confiabilidad espacial, COTS debe evaluarse y modificarse para cumplir con las especificaciones de la agencia espacial, especialmente en Single Event Latchup (SEL). Este efecto se produce por el impacto de un ion pesado en el circuito. La energía transmitida a la materia (LET) activa el tiristor parásito e induce el bloqueo. La sensibilidad SEL se caracteriza por el umbral LET y los criterios de tensión de mantenimiento. Hasta ahora, para evaluar el umbral de LET, se realizaban pruebas experimentales y de simulación TCAD, pero TCAD requiere mucho tiempo y las sesiones de irradiación son muy caras.Un modelo analítico de umbral LET es una solución para obtener una estimación rápida a menor costo y podría ayudar a endurecer el producto a la radiación. JMP está bien adaptado para ayudar a construir y analizar los resultados de un diseño de experimento (DOE). Su generador de perfiles está adaptado para encontrar la mejor combinación de las entradas para cumplir con los criterios de umbral LET.
