예측 단일 이벤트 래치업 모델 개발Laurence Montagner, 수석 기술 및 개발 엔지니어, Microchip Technology Rousset
원가 절감에 초점을 맞춘 새로운 우주 시장에 대처하기 위해서는 COTS(선반 위의 회로) 제품을 사용하는 것이 좋은 선택입니다. 우주 신뢰성을 준수하려면 특히 SEL(Single Event Latchup)에서 우주 기관 사양을 충족하도록 COTS를 평가하고 수정해야 합니다. 이 효과는 회로에 무거운 이온이 가해지면 발생합니다. 물질에 전달된 에너지(LET)는 기생 사이리스터를 트리거하고 래치업을 유도합니다. SEL 감도는 LET 임계값과 유지 전압 기준으로 특징지어집니다. 지금까지 LET 임계값을 평가하기 위해 TCAD 시뮬레이션 및 실험 테스트를 수행했지만 TCAD는 시간이 많이 걸리고 조사 세션이 매우 비쌉니다.분석 모델 LET 임계값은 저렴한 비용으로 빠른 추정치를 얻을 수 있는 솔루션이며 제품을 방사선에 강화하는 데 도움이 될 수 있습니다. JMP는 실험계획법(DOE)의 결과를 구축하고 분석하는 데 도움이 되도록 잘 조정되었습니다. 해당 프로파일러는 LET 임계값 기준을 충족하는 입력의 최상의 조합을 찾도록 조정됩니다.
암사슴통계 및 모델링
