用于在制造环境中识别问题工具的标准最小二乘法
Edward L. Hutchins, Cree Inc.
我们描述了一种在制造环境中识别问题工具的分析方法。 使用 JMP，我们可视化了良率问题，收集了相关数据集，并创建了标准最小二乘模型来识别对问题影响最大的工具。 一旦确定，进一步的分析会提出适当的纠正措施。 在许多情况下，我们发现这种策略是识别问题工具的有效方法。
