予測シングル イベント ラッチアップ モデルの開発 (2023-EU-30MP-1333)Laurence Montagner、プリンシパル テクノロジー ハードニング エンジニア、Microchip Technology Rousset
David Truyen、プリンシパル テクノロジおよびデベロップメント エンジニア、Microchip
コスト削減が重視される新しい宇宙市場に対応するには、COTS (Circuit on the Shelf) 製品の使用が適しています。 宇宙の信頼性に準拠するには、COTS を評価し、特にシングル イベント ラッチアップ (SEL) で宇宙機関の仕様を満たすように変更する必要があります。 この効果は、回路への重イオンの衝突によって発生します。 物質に伝達されたエネルギー (LET) が寄生サイリスタをトリガーし、ラッチアップを誘発します。 SEL 感度は、LET しきい値と保持電圧基準によって特徴付けられます。 これまで、LET 閾値を評価するために、TCAD シミュレーションと実験的テストが行われていましたが、TCAD は時間がかかり、照射セッションは非常に高価です。解析モデルの LET しきい値は、低コストで迅速な見積もりを得るためのソリューションであり、製品を放射線に対して強化するのに役立ちます。 JMP は、実験計画法 (DOE) の結果の作成と分析を支援するのに適しています。 そのプロファイラーは、LET しきい値基準を満たすために入力の最適な組み合わせを見つけるように適合されています。
