Laurence Montagner, Principal Technology Hardening Engineer, Microchip Technology Rousset
David Truyen, leitender Technologie- und Entwicklungsingenieur, Microchip
Um den neuen, auf Kostenreduzierung ausgerichteten Raumfahrtmarkt anzusprechen, ist der Einsatz von COTS-Produkten (Circuit on the Shelfs) eine gute Option. Um der Weltraumzuverlässigkeit zu entsprechen, müssen COTS bewertet und modifiziert werden, um die Spezifikationen der Weltraumbehörde zu erfüllen, insbesondere bei Single Event Latchup (SEL). Dieser Effekt tritt durch das Auftreffen eines schweren Ions auf den Stromkreis auf. Die an die Materie übertragene Energie (LET) triggert den parasitären Thyristor und induziert den Latchup. Die SEL-Empfindlichkeit wird durch die LET-Schwelle und die Haltespannungskriterien charakterisiert. Bisher wurden zur Bewertung der LET-Schwelle TCAD-Simulationen und experimentelle Tests durchgeführt, aber TCAD ist zeitaufwändig und Bestrahlungssitzungen sind sehr teuer.Ein analytischer Modell-LET-Schwellenwert ist eine Lösung, um eine schnelle Schätzung zu geringeren Kosten zu erhalten, und könnte dazu beitragen, das Produkt gegenüber Strahlung zu härten. JMP ist gut geeignet, um beim Erstellen und Analysieren der Ergebnisse eines Design of Experiment (DOE) zu helfen. Sein Profiler ist angepasst, um die beste Kombination der Eingaben zu finden, um die LET-Schwellenkriterien zu erfüllen.
