预测单事件闩锁模型的开发 (2023-EU-30MP-1333)Laurence Montagner，Microchip Technology Rousset 首席技术强化工程师
Microchip 首席技术和开发工程师 David Truyen
针对注重降低成本的新空间市场，使用COTS（货架上的电路）产品是一个不错的选择。 为了符合空间可靠性，必须对 COTS 进行评估和修改以满足航天局规范，尤其是在单事件闩锁 (SEL) 方面。 这种效应是由重离子撞击电路而产生的。 传输到物质的能量 (LET) 触发寄生晶闸管并引发闭锁。 SEL 灵敏度的特征在于 LET 阈值和保持电压标准。 到目前为止，为了评估 LET 阈值，进行了 TCAD 模拟和实验测试，但 TCAD 非常耗时，照射过程非常昂贵。分析模型 LET 阈值是一种以较低成本获得快速估计的解决方案，可以帮助增强产品的辐射强度。 JMP 非常适合协助构建和分析实验设计 (DOE) 的结果。 它的剖析器适用于找到满足 LET 阈值标准的最佳输入组合。
