Laurence Montagner, Principal Technology Hardening Engineer, Microchip Technology Rousset
David Truyen, Principal Technology and Development Engineer, Microchip
Per affrontare il nuovo mercato spaziale incentrato sulla riduzione dei costi, l'uso di prodotti COTS (circuito sugli scaffali) è una buona opzione. Per essere conformi all'affidabilità spaziale, COTS deve essere valutato e modificato per soddisfare le specifiche dell'agenzia spaziale, in particolare su Single Event Latchup (SEL). Questo effetto si verifica per l'urto di uno ione pesante sul circuito. L'energia trasmessa alla materia (LET) innesca il tiristore parassita e induce il latchup. La sensibilità SEL è caratterizzata dalla soglia LET e dai criteri della tensione di mantenimento. Fino ad ora, per valutare la soglia LET, sono state eseguite simulazioni TCAD e test sperimentali, ma TCAD richiede tempo e le sessioni di irradiazione sono molto costose.Una soglia LET del modello analitico è una soluzione per ottenere una stima rapida a un costo inferiore e potrebbe aiutare a indurire il prodotto alle radiazioni. JMP è particolarmente adatto per assistere nella costruzione e nell'analisi dei risultati di un progetto di esperimento (DOE). Il suo profiler è adattato per trovare la migliore combinazione degli input per soddisfare i criteri di soglia LET.
