擴大規格限制以考慮 GRR？你好。這裡是製造/統計問題。假設您的零件在製造過程中的多個點（節點）進行測試。我很好奇，在第一個節點之後，人們是否/會擴大限制以考慮 GRR？您只需在 USL 中添加 1 GRR/從 LSL 中減去 1 GRR 嗎？或者統計界對於如何處理這個問題還有其他共識嗎？
從歷史上看，我在第一個節點之後將限制擴大了 +/- 1 GRR。這樣做是為了考慮由測試人員/測試人員/操作人員的可變性引起的任何變化。由於這種可變性，透過值接近第一個節點限制的部分可能已移至外部，因此我擴大了下游限制以解決此問題。這僅在第一個測試節點之後完成，因為假設該元件只能移動 +/-1GRR。
1. 其他人也這樣做嗎？
2. 當設定限制以實現目標 Cpk = 2 時，我們在平均值上加上 +/- 3 西格瑪。按照這個邏輯，我應該在限制中添加 +/- 3GRR 而不是 +/-1GRR 嗎？
我認為統計上正確的處理方法如下，但我想得到社區的一些確認。假設我們將測量值視為該部件的 X 的靜態「真實」值與 Eps（平均值 = 0 且變異 = GRR^2 的常態隨機變數）總和。
節點 1：Xmeas1 = Xtrue + Eps1 Mean(Xmeas1) = Xtrue Var(Xmeas1) = GRR1^2
節點 N：XmeasN = Xtrue + EpsN Mean(XmeasN) = Xtrue Var(XmeasN) = GRRN^2
XmeasN 可以根據初始測量值和表示節點之間偏移的新隨機變數 (EpsDiff) 進行重寫：
XmeasN = Xmeas1 - Eps1 + EpsN = Xmeas1 + EpsDiff
在哪裡：
平均值（EpsDiff）= 0（因為平均值（Eps）== 0）
Var(EpsDiff) = GRR1^2 + GRRN^2 = 2GRR^2 （假設所有節點上的 GRR 相同）
依照這個邏輯，我是否應該將下游節點的限制擴大+/-sqrt(2)*GRR？
很想知道人們對此的想法。謝謝！
品質和工藝工程回复：擴大規格限制以考慮 GRR？以下是我的一些想法/問題，儘管您可能不同意它們：
1.什麼是GRR？ 我想你想在設置規格時考慮測量系統錯誤，對嗎？ 但是我不確定您打算使用什麼 GRR 編號（std dev 用於可重複性、再現性，兩者）？方差分量總是相加（不是標準差）。
2. 我的理解是傳統規範是應用程序需求的函數（希望是客戶驅動的）。 雖然這些可以協商，但它們應該反映組件、組件等在什麼時候性能下降（或無法執行）。 不幸的是，這些通常是獨立於真實過程能力而設置的。 我認為您提議的是設置處理限制（可能是內部規範）以解決測量系統的不確定性……這是您的意思嗎？
3. 我有幾個關於測量系統引起的變異估計的問題（也適用於用於估計 Cpk 的樣本統計數據）。 測量系統是否穩定？ 用於估計統計數據的樣本集合的推理空間是多少？ 如何代表未來的狀況？
4. 我自己的小吐槽，因為我沒有看到規範“心態”的許多有用應用（滿足規範確實與持續改進背道而馳）。 我會花時間了解製造過程中哪些因素會影響輸出產品的關鍵性能指標的均值和變化。 Y=f(X)（使用採樣和 DOE）。 測量過程相同。 然後量化性能下降的點（田口損失函數）。
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？以什麼為基礎@statman提到，並進一步複雜化，通常不是規格限制收緊考慮測量系統誤差？ Jerry Fish 和 Jason Wiggins 在今年的 Discovery 上介紹了這個主題，並且還上傳了一個插件來計算基於 MSA/GRR 錯誤的規格限制變化。 鏈接在這裡. 假設您仍然需要，您可能會使用他們的插件來計算將規格限制擴大多少。
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？這個想法與提出的相同@statman和@Jed_Campbell但從不同的角度來看。 處置規範（通過、失敗）由性能設置為要求。 測量/測試誤差是從這些限制中減去的，而不是添加到這些限制中的。 有不止一個基於這一概念的既定方案。 我從未見過有人走另一條路。 把規格想像成一堵牆；外面是客戶看到的。 你可以從內部拿走，但不能從他們那裡拿走。
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？嗨馬克和其他人。
首先讓我澄清幾件事。 規範限制可以是用戶驅動的，也可以是過程驅動的。 用戶驅動的限制檢查零件是否滿足提前定義的關鍵標準。 流程驅動的限制用於確保您的流程處於受控狀態。 這些限制（通常）是為了實現目標 cpk = 2 而選擇的，並且基於歷史數據，而不是用戶標準。
還要澄清一下，我使用“GRR”來指代由多個測試人員/操作員/重複引入的測量方差。 換句話說，總方差 (TV) 減去部分方差 (PV)。
話雖這麼說，用戶變量和過程變量的測量值在向下游移動時都會因 GRR 而發生偏移（您的測量值不關心您對變量的稱呼）。 所以我不同意永遠不應該擴大限制。 也許用不同的方式來表述問題會有所幫助。 我說的是隨著零件向下游延伸而擴大限制。 相反，考慮我想收緊上游限制以確保通過的部件符合我最終的下游規格。 我的問題很簡單，要將上游限制收緊多少才能考慮 GRR？
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？收緊上游限制是一種有趣的方式來構建這個——感謝您的澄清。 加載項位於這個鏈接可用於計算適當的數量以移動規格限制以說明 GRR。 如果您想手動執行，您也可以使用 OC 曲線平台（分析、質量和過程、OC 曲線）。
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？只是一些關於術語和隨後的混淆的反饋。 恕我直言，“過程驅動”限制不是規格限制。 你說的是控制限度嗎？ 這些是過程及其採樣方式的函數。 您不能選擇它們，儘管它們會根據數據的獲取方式而改變。 不幸的是，規格限制與統計控制無關，因為它們是獨立導出的。
你可以設置任何你想要的限制。 該過程不關心也不受您施加的限制的影響。 但是繼續...
回复：擴大規格限制以考慮 GRR？我同意在討論像這樣的複雜主題時使用既定術語會有所幫助。
