Laurence Montagner, ingénieur principal en technologie et développement, Microchip Technology Rousset
Pour répondre au nouveau marché spatial axé sur la réduction des coûts, l'utilisation de produits COTS (circuit sur les étagères) est une bonne option. Pour être conforme à la fiabilité de l'espace, le COTS doit être évalué et modifié pour répondre aux spécifications de l'agence spatiale, en particulier sur Single Event Latchup (SEL). Cet effet se produit par la frappe d'un ion lourd sur le circuit. L'énergie transmise à la matière (LET) déclenche le thyristor parasite et induit le verrouillage. La sensibilité SEL est caractérisée par le seuil LET et les critères de tension de maintien. Jusqu'à présent, pour évaluer le seuil LET, des simulations TCAD et des tests expérimentaux étaient effectués, mais TCAD prend du temps et les séances d'irradiation sont très coûteuses.Un modèle analytique à seuil LET est une solution pour obtenir une estimation rapide à moindre coût et pourrait contribuer à durcir le produit aux radiations. JMP est bien adapté pour aider à la construction et à l'analyse des résultats d'un plan d'expérience (DOE). Son profileur est adapté pour trouver la meilleure combinaison des entrées pour répondre aux critères de seuil LET.
