JMP® 17의 MSA 플랫폼 도구 응용 프로그램(2023-EU-PO-1345)Vasco Cachaco, 비즈니스 개선 및 분석 엔지니어, Xaar plc
측정 시스템 분석은 측정 시스템에 영향을 줄 수 있는 변화의 원인을 식별하고 관리하는 체계적인 접근 방식입니다. 최상위 수준에서 이러한 유형의 분석을 통해 프로세스 또는 시스템의 관찰된 총 변동(TV)에 존재하는 측정 시스템 변동(MV)을 정량화할 수 있습니다. 프로세스(부품 간) 변형(PV)에서 분리합니다. 측정 편차는 정밀도와 정확도로 더 세분화할 수 있습니다. Precision 구성 요소의 경우 연속 데이터에 대한 순차적 방법을 따라 측정 시스템의 적합성을 결정합니다. 유형 1 게이지 연구는 측정 장치의 정확성과 일관성을 조사하고 전체 게이지 R&R 연구는 전체 측정 시스템의 반복성과 재현성을 조사합니다. 이 포스터는 JMP 17에서 이러한 도구를 실제로 적용하는 방법을 보여줍니다.
데이터 시각화품질과 신뢰성