通過調整 CpK 值找到新的規格限值你好，
我很好奇，如果 JMP 具有內置功能，我可以將規格限制調整為各種值（例如數據集中的 100 個參數），並查看它將如何更改數據集中的 CpK 值？
如果 jmp 目前不可用，最好的方法是什麼？
謝謝，
安查爾
質量和工藝工程回复：通過調整 CpK 值找到新的規格限制您有 JMP 17 嗎？ 如果是這樣，新的設計空間分析器可能對此非常有幫助，但方向略有不同。 假設您有一個包含特徵/尺寸長度的模型，您可以直觀地看到輸入所需的規格限制，以實現所需的過程輸出。 探查器在探索輸入的處理能力如何影響輸出方面具有很大的可用性，特別是與內置的蒙特卡羅模擬器一起使用時（例如，紅色三角形...將限制發送到模擬器）。
這是一個簡短的視頻概述設計空間分析器的。
回复：通過調整 CpK 值找到新的規格限制莫努_特立獨行者，我做的正是你所說的事情。試試這個，進入分佈平台，擬合一個分佈，然後在分佈紅色箭頭選項中選擇能力分析。從那裡將規範限制擬合從概率更改為 K sigma。3 等於 1 的 ppk，4 等於 1.33。然後，它將輸出該 K 西格瑪水平的規格限制和能力分析。如果這對您有用，請告訴我，我將發布一個腳本，允許您對多個列執行此操作。
以下是使用半導體示例數據集的流程
確保在按“確定”之前按“計算規格限制”按鈕（請注意，我刪除了從列屬性加載的規格限制）
以下是建議的規格限制。
使用“擬合最佳”分佈選項的好處是該方法適用於正態或非正態分佈！
希望這可以幫助
史蒂夫
回复：通過調整 CpK 值找到新的規格限制您嘗試過交互能力圖嗎？ 在分佈過程能力輸出中，查看帶有變量和能力名稱的紅色三角形，最後一個選項是交互式能力圖。 這將允許您調整中心和可變性以及您的規格限制，並將計算能力指數和 ppm 值。
回复：通過調整 CpK 值找到新的規格限制感謝您的回復和解釋。 我認為我沒有很好地解釋我的問題。 請看下面
我正在測量我的零件上的各種特徵（或尺寸長度），並且每個特徵都有一些公差限制（上限和下限）。 當我在 JMP16 的“工藝篩選”選項中分析生產其中幾個零件的工藝的工藝能力時，每個特徵都有一個唯一的 CpK 值。 我很好奇 JMP 是否可以幫助我朝相反的方向前進，即是否可以告訴 JMP 我需要為每個零件特徵達到某個 CpK 值（例如 1.33），因此 JMP 可以告訴我應該是什麼每個零件特徵的新公差極限？
此練習背後的想法是返回給客戶，請求修改過去設置的容差限制。
希望這能更好地解釋我原來的問題。
感謝我在 JMP 社區獲得的所有幫助。
謝謝，
安查爾
回复：通過調整 CpK 值找到新的規格限制你的想法正朝著相反的方向發展；在我看來。 您首先根據客戶要求設置規範，並確定哪些結果是不可接受的。 對於不同的客戶或應用程序可能有不同的規格。 然後，您確定您的過程處於受控狀態，並最終估計過程能力。 如果能力指數不可接受，您可以根據流程模型調整流程因子設置，以實現所需的平均值和長期方差。
