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Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

Hola,

 

Tenía curiosidad de que si JMP tiene una capacidad incorporada para poder ajustar los límites de especificación a varios valores (por ejemplo, 100 parámetros en mi conjunto de datos) y ver cómo cambiaría sus valores de CpK en mi conjunto de datos.

 

Si actualmente no está disponible en jmp, ¿cuál sería la mejor manera de hacerlo?

 

Gracias,

Anchal

Ingeniería de Calidad y ProcesosRe: Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

¿Ya tienes JMP 17? Si es así, el nuevo Design Space Profiler podría ser muy útil con esto, pero desde una dirección ligeramente diferente. Suponiendo que tiene un modelo que incluye las características/longitudes de tamaño, puede visualizar cuáles deben ser los límites de especificación para que las entradas logren el resultado del proceso requerido. El generador de perfiles tiene mucha utilidad para explorar cómo la capacidad del proceso de las entradas afecta las salidas, especialmente cuando se usa con el simulador de Monte Carlo incorporado (triángulo rojo... Enviar límites al simulador, por ejemplo).

 

Aquí está un breve resumen de vídeo del Design Space Profiler.

Re: Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

monu_maverick , Hago exactamente lo que dices.Pruebe esto, vaya a la plataforma de distribución, ajuste una distribución, luego, en las opciones de flecha roja de distribuciones, elija el análisis de capacidad.A partir de ahí, cambie el ajuste del límite de especificación de probabilidad a K sigma.3 será igual a un ppk de 1 y 4 será igual a 1,33.Luego generará un límite de especificación y un análisis de capacidad para ese nivel de K sigma.Si esto funciona para usted, hágamelo saber y publicaré un script que le permitirá hacer esto para varias columnas.

Aquí está el flujo usando el conjunto de datos de muestra de Semiconductor

 

Asegúrese de presionar el botón "calcular límites de especificaciones" antes de presionar Aceptar (tenga en cuenta que eliminé los límites de especificaciones que se cargaron desde la propiedad de la columna)

 

Estos son los límites de especificación sugeridos.

 

¡Lo bueno de usar la opción de distribución "mejor ajuste" es que este método funciona para distribuciones normales o no normales!

 

Espero que esto ayude

 

Steve

 

 

 

Re: Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

¿Has probado la gráfica de capacidad interactiva? En el resultado de la capacidad del proceso de distribución, mire el triángulo rojo con el nombre de su variable y capacidad, y la última opción es Gráfica de capacidad interactiva. Esto le permitirá ajustar el centrado y la variabilidad y sus límites de especificación y calculará los índices de capacidad y los valores de ppm.

Re: Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

Gracias por responder y explicar. Creo que no hice un buen trabajo al explicar mi pregunta. Por favor vea lo siguiente

 

Estoy midiendo varias características (o longitudes de tamaño) de mi parte y cada una de esas características tiene algunos límites de tolerancia (superior e inferior). Cuando analicé la capacidad de proceso del proceso que produjo varias de estas piezas en la opción "Proceso de detección" de JMP16, cada función tenía un valor de CpK único. Tenía curiosidad por saber si JMP podría ayudarme a ir en la dirección inversa, es decir, si pudiera decirle a JMP que necesito alcanzar un cierto valor de CpK (por ejemplo, 1,33) para cada una de las características de la pieza y, como consecuencia, JMP podría decirme qué debería ser. los nuevos límites de tolerancia para cada una de las características de la pieza?

 

La idea detrás de este ejercicio es volver al cliente con una solicitud para modificar los límites de tolerancia que se establecieron en el pasado.

 

Espero que esto explique mejor mi pregunta original.

 

Agradezco toda la ayuda que recibo en la comunidad JMP.

 

Gracias,

Anchal

Re: Encuentre nuevos límites de especificación ajustando el valor de CpK

Tu idea va en la dirección opuesta; me parece. Primero establece especificaciones basadas en los requisitos del cliente y una determinación de dónde el resultado es inaceptable. Puede haber diferentes especificaciones para diferentes clientes o aplicaciones. Luego establece que su proceso está bajo control y finalmente estima la capacidad del proceso. Usted ajusta la configuración del factor de proceso, tal vez en función de un modelo del proceso, para lograr la variación media y a largo plazo deseada si el índice de capacidad es inaceptable.