通过调整 CpK 值找到新的规格限值你好，
我很好奇，如果 JMP 具有内置功能，我可以将规格限制调整为各种值（例如数据集中的 100 个参数），并查看它将如何更改数据集中的 CpK 值？
如果 jmp 目前不可用，最好的方法是什么？
谢谢，
安查尔
质量和工艺工程回复：通过调整 CpK 值找到新的规格限制您有 JMP 17 吗？ 如果是这样，新的设计空间分析器可能对此非常有帮助，但方向略有不同。 假设您有一个包含特征/尺寸长度的模型，您可以直观地看到输入所需的规格限制，以实现所需的过程输出。 探查器在探索输入的处理能力如何影响输出方面具有很大的可用性，特别是与内置的蒙特卡罗模拟器一起使用时（例如，红色三角形...将限制发送到模拟器）。
这是一个简短的视频概述设计空间分析器的。
回复：通过调整 CpK 值找到新的规格限制莫努_特立独行者，我做的正是你所说的事情。试试这个，进入分布平台，拟合一个分布，然后在分布红色箭头选项中选择能力分析。从那里将规范限制拟合从概率更改为 K sigma。3 等于 1 的 ppk，4 等于 1.33。然后，它将输出该 K 西格玛水平的规格限制和能力分析。如果这对您有用，请告诉我，我将发布一个脚本，允许您对多个列执行此操作。
以下是使用半导体示例数据集的流程
确保在按“确定”之前按“计算规格限制”按钮（请注意，我删除了从列属性加载的规格限制）
以下是建议的规格限制。
使用“拟合最佳”分布选项的好处是该方法适用于正态或非正态分布！
希望这可以帮助
史蒂夫
回复：通过调整 CpK 值找到新的规格限制您尝试过交互能力图吗？ 在分布过程能力输出中，查看带有变量和能力名称的红色三角形，最后一个选项是交互式能力图。 这将允许您调整中心和可变性以及您的规格限制，并将计算能力指数和 ppm 值。
回复：通过调整 CpK 值找到新的规格限制感谢您的回复和解释。 我认为我没有很好地解释我的问题。 请看下面
我正在测量我的零件上的各种特征（或尺寸长度），并且每个特征都有一些公差限制（上限和下限）。 当我在 JMP16 的“工艺筛选”选项中分析生产其中几个零件的工艺的工艺能力时，每个特征都有一个唯一的 CpK 值。 我很好奇 JMP 是否可以帮助我朝相反的方向前进，即是否可以告诉 JMP 我需要为每个零件特征达到某个 CpK 值（例如 1.33），因此 JMP 可以告诉我应该是什么每个零件特征的新公差极限？
此练习背后的想法是返回给客户，请求修改过去设置的容差限制。
希望这能更好地解释我原来的问题。
感谢我在 JMP 社区获得的所有帮助。
谢谢，
安查尔
回复：通过调整 CpK 值找到新的规格限制你的想法正朝着相反的方向发展；在我看来。 您首先根据客户要求设置规范，并确定哪些结果是不可接受的。 对于不同的客户或应用程序可能有不同的规格。 然后，您确定您的过程处于受控状态，并最终估计过程能力。 如果能力指数不可接受，您可以根据流程模型调整流程因子设置，以实现所需的平均值和长期方差。
