Trouvez de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpKSalut,
J'étais curieux de savoir si JMP avait une capacité intégrée où je pouvais ajuster les limites de spécification à diverses valeurs (pour environ 100 paramètres dans mon jeu de données) et voir comment cela changerait leurs valeurs CpK dans mon jeu de données ?
S'il n'est pas actuellement disponible dans jmp, quelle serait la meilleure façon de le faire ?
Merci,
Anchal
Ingénierie de la qualité et des procédésRe : Trouver de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpKAvez-vous déjà JMP 17 ? Si tel est le cas, le nouveau Design Space Profiler pourrait être très utile à cet égard, mais dans une direction légèrement différente. En supposant que vous disposez d'un modèle qui inclut les caractéristiques/longueurs de taille, vous pouvez visualiser quelles doivent être les limites de spécification pour que les entrées atteignent une sortie de processus requise. Le profileur a beaucoup de facilité d'utilisation pour explorer comment la capacité de processus des entrées affecte les sorties, en particulier lorsqu'il est utilisé avec le simulateur Monte Carlo intégré (triangle rouge...Envoyer les limites au simulateur, par exemple).
Voici un bref aperçu vidéo du Design Space Profiler.
Re : Trouver de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpK monu_maverick , je fais exactement ce dont tu parles.Essayez ceci, allez dans la plate-forme de distribution, adaptez une distribution, puis dans les options de flèche rouge des distributions, choisissez l'analyse des capacités.À partir de là, changez l'ajustement de la limite de spécification de la probabilité à K sigma.3 sera égal à un ppk de 1 et 4 sera égal à 1,33.Il produira ensuite une limite de spécification et une analyse de capacité pour ce niveau K sigma.Si cela fonctionne pour vous, faites-le moi savoir et je publierai un script qui vous permettra de le faire pour plusieurs colonnes.
Voici le flux utilisant l'exemple d'ensemble de données Semiconductor
Assurez-vous d'appuyer sur le bouton "calculer les limites de spécification" avant d'appuyer sur OK (notez que j'ai supprimé les limites de spécification qui ont été chargées à partir de la propriété de la colonne)
Voici les limites de spécifications suggérées.
L'avantage d'utiliser l'option de distribution « fit best » est que cette méthode fonctionne pour les distributions normales ou non normales !
J'espère que cela t'aides
Steve
Re : Trouver de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpKAvez-vous essayé le diagramme de capacité interactif ? Dans la sortie de la capacité du processus de distribution, regardez le triangle rouge avec le nom de votre variable et de votre capacité, et la dernière option est Interactive Capability Plot. Cela vous permettra d'ajuster le centrage et la variabilité et vos limites de spécifications et il calculera les indices de capacité et les valeurs ppm.
Re : Trouver de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpKMerci d'avoir répondu et expliqué. Je pense que je n'ai pas bien expliqué ma question. S'il vous plaît voir ci-dessous
Je mesure diverses caractéristiques (ou longueurs de taille) de ma part et chacune de ces caractéristiques a des limites de tolérance (supérieures et inférieures). Lorsque j'ai analysé la capacité de processus du processus qui a produit plusieurs de ces pièces dans l'option "Process Screening" de JMP16, chaque caractéristique avait une valeur CpK unique. J'étais curieux de savoir si JMP pouvait m'aider à aller dans le sens inverse, c'est-à-dire si je pouvais dire à JMP que je devais atteindre une certaine valeur CpK (par exemple 1,33) pour chacune des caractéristiques de la pièce et, par conséquent, JMP pourrait me dire ce qui devrait être les nouvelles limites de tolérance pour chacune des caractéristiques de la pièce ?
L'idée derrière cet exercice est de retourner vers le client avec une demande de modification des limites de tolérance qui ont été fixées dans le passé.
J'espère que cela explique mieux ma question initiale.
J'apprécie toute l'aide que je reçois de la communauté JMP.
Merci,
Anchal
Re : Trouver de nouvelles limites de spécification en ajustant la valeur CpKVotre idée va dans la direction opposée ; il me semble. Vous définissez d'abord les spécifications en fonction des exigences du client et déterminez où le résultat est inacceptable. Il peut y avoir des spécifications différentes pour différents clients ou applications. Ensuite, vous établissez que votre procédé est maîtrisé et, enfin, vous estimez la capabilité du procédé. Vous ajustez les paramètres de facteur de processus, peut-être en fonction d'un modèle du processus, pour obtenir la variance moyenne et à long terme souhaitée si l'indice de capabilité est inacceptable.
