Hi,
Ich versuche, eine Wafer-Map-Defektanalyse durchzuführen, die der hier gezeigten sehr ähnlich ist:
Bild- und Waferanalyse mittels funktionaler Datenanalyse (jmp.com)
Ich kann FDE auf die gleiche Weise verwenden, um FPCs zu plotten, die ihrer Handlung ähnlich sind.
Was ist der nächste Schritt, um dies zu modellieren und zu identifizieren, welche Wafer wahrscheinlich bestimmte Merkmale aufweisen?
