Comment utiliser les FPC FDE pour la modélisation ?Salut,
J'essaie de faire une analyse des défauts de carte de plaquette très similaire à celle montrée ici:
Analyse d'images et de tranches à l'aide de l'analyse de données fonctionnelles (jmp.com)
Je suis capable d'utiliser FDE de la même manière pour tracer des FPC similaires à leur tracé.
Quelle est la prochaine étape pour modéliser cela et identifier les wafers susceptibles d'avoir certaines caractéristiques ?
Analytique
