級別：初學者
【主持人】
SAS Institute Japan K.K. JMP 日本分部
技術組系統工程師 Yuichi Katsumura
[演示文稿概述]
在製造業中，測量是在各種情況下進行的，例如過程控制。例如，如果測量不准確，則很難理解測量值的變化是由於測量系統還是過程造成的。那麼如何確定測量系統的測量精度呢？這就是測量系統分析 (MSA) 發揮作用的地方。測量系統分析包括對偏差、穩定性和線性度的評估，但在本次演講中，我們將主要介紹 Gauge R&R 分析和 EMP 分析，它們分析測量系統的變化。使用 JMP，您可以設計測量系統分析實驗並輸出分析結果。我們還將重點介紹 JMP 17 中添加的與測量系統分析相關的一些新功能和更改。
[Presenter profile] 2010年加入SAS Institute Japan Co., Ltd.。目前主要負責化工行業的客戶，負責JMP產品的售前工作，如JMP研討會、JMP演示等。
