Niveau: Anfänger
【Moderator】
SAS Institute Japan KK JMP Japan Division
Technischer Gruppensystemingenieur Yuichi Katsumura
[Präsentationsübersicht]
In der Fertigungsindustrie werden Messungen in verschiedenen Situationen durchgeführt, beispielsweise in der Prozesskontrolle. Wenn beispielsweise die Messung nicht genau durchgeführt wird, wird es schwierig zu verstehen, ob die Schwankungen des Messwerts auf das Messsystem oder den Prozess zurückzuführen sind. Wie können Sie also die Messgenauigkeit Ihres Messsystems herausfinden? Hier hilft die Messsystemanalyse (MSA). Die Messsystemanalyse umfasst die Bewertung von Bias, Stabilität und Linearität, aber in dieser Präsentation werden wir hauptsächlich die Gauge R&R-Analyse und die EMP-Analyse vorstellen, die die Variation von Messsystemen analysieren. Mit JMP können Sie Analyseexperimente für Messsysteme entwerfen und Analyseergebnisse ausgeben. Wir werden auch einige der neuen Funktionen und Änderungen in Bezug auf die Messsystemanalyse hervorheben, die in JMP 17 hinzugefügt wurden.
[Moderatorenprofil] Seit 2010 bei SAS Institute Japan Co., Ltd. Derzeit betreue ich hauptsächlich Kunden in der chemischen Industrie und bin für die Pre-Sales-Arbeit für JMP-Produkte, wie JMP-Seminare und JMP-Demonstrationen, verantwortlich.
