级别：初学者
【主持人】
SAS Institute Japan K.K. JMP 日本分部
技术组系统工程师 Yuichi Katsumura
[演示文稿概述]
在制造业中，测量是在各种情况下进行的，例如过程控制。例如，如果测量不准确，则很难理解测量值的变化是由于测量系统还是过程造成的。那么如何确定测量系统的测量精度呢？这就是测量系统分析 (MSA) 派上用场的地方。测量系统分析包括对偏差、稳定性和线性度的评估，但在本次演讲中，我们将主要介绍 Gauge R&R 分析和 EMP 分析，它们分析测量系统的变化。使用 JMP，您可以设计测量系统分析实验并输出分析结果。我们还将重点介绍 JMP 17 中添加的与测量系统分析相关的一些新功能和更改。
[Presenter profile] 2010年加入SAS Institute Japan Co., Ltd.。目前主要负责化工行业的客户，负责JMP产品的售前工作，如JMP研讨会、JMP演示等。
