Niveau : Débutant
【Présentateur】
SAS Institute Japan K.K. JMP Japon Division
Ingénieur système du groupe technique Yuichi Katsumura
[Aperçu de la présentation]
Dans l'industrie manufacturière, les mesures sont effectuées dans diverses situations telles que le contrôle de processus. Par exemple, si la mesure n'est pas effectuée avec précision, il devient difficile de comprendre si la variabilité de la valeur mesurée est due au système de mesure ou au processus. Alors, comment pouvez-vous connaître la précision de mesure de votre système de mesure ? C'est là que l'analyse des systèmes de mesure (MSA) vient à la rescousse. L'analyse des systèmes de mesure comprend l'évaluation du biais, de la stabilité et de la linéarité, mais dans cette présentation, nous présenterons principalement l'analyse Gauge R&R et l'analyse EMP, qui analysent la variation des systèmes de mesure. Avec JMP, vous pouvez concevoir des expériences d'analyse de systèmes de mesure et générer des résultats d'analyse. Nous mettrons également en évidence certaines des nouvelles fonctionnalités et modifications liées à l'analyse du système de mesure qui ont été ajoutées dans JMP 17.
[Profil du présentateur] A rejoint SAS Institute Japan Co., Ltd. en 2010. Actuellement, je suis principalement en charge des clients de l'industrie chimique, et je suis en charge des travaux d'avant-vente des produits JMP, tels que les séminaires JMP et les démonstrations JMP.
