級別：初學者
【主持人】
應用材料
客戶質量工程師 Yusei Lai
客戶質量工程師 Wayne Chou
[演示文稿概述]
利用多個 JMP 16 平台研究隊友之間的考試模式。 層次聚類分析用於對具有相似回答模式的學生進行分組。 跨問題的細胞圖分析，縮小範圍。 列聯表卡方檢驗和進一步列聯表卡方檢驗來測試隊友活動的概率。 通過配對比較，發現隊友在不違反考試政策的情況下為自己辯護的機會不到0.001%。
利用多個 JMP16 平台研究隊友之間的提問模式。層次聚類分析將具有相似回答模式的學生分組。縮小問題間單元格圖分析的範圍。列聯表卡方檢驗，加上列聯表卡方檢驗來測試隊友活動概率。配對比較檢測到隊友保護自己免受測試策略違規的可能性小於 0.001%。
[主持人簡介]
Yuchen 是應用材料公司的客戶質量工程師。 Yuchen 擔任 SEMI CVD 客戶工程師 10 年，品質經驗 5 年。 Yuchen 的研究重點是管理流程的持續改進。
Yuchen 是應用材料公司的客戶質量工程師。擔任 SEMI CVD 客戶工程師 10 年，擔任質量控制經理 5 年。他的研究主題是管理流程的持續改進。
