Niveau: Anfänger
Fabrizio Ruo Redda, Senior Manager für Forschung und Entwicklung, Vishay Semiconductor Italiana
Die Entwicklung von Halbleiterbauelementen erfordert umfangreiche Tests und Datenanalysen. Das elektrische Charakterisierungslabor stellt Entwicklungsingenieuren eine große Menge an Daten zur Verfügung, die jedes Mal in unterschiedlichen Formaten gemäß den spezifischen zu testenden Produkten vorliegen.
Normalerweise verbringen Entwicklungsingenieure viel Zeit damit, die Daten zusammenzustellen, während ein begrenzter Teil der Zeit wertschöpfenden Aktivitäten wie der statistischen Analyse der Daten und dem Ziehen fundierter Schlussfolgerungen gewidmet ist.
Im Rahmen eines schlanken Six-Sigma-Projekts konnte der wirtschaftliche Vorteil aufgezeigt werden, der sich durch den Wegfall der langwierigen Datenaufbereitung bzw. des „Datenumzugs“ erzielen lässt.
Die JMP-Skriptfunktion wird verwendet, um komplexe Datendateien von verschiedenen Testern zu verwalten, sodass sie einfach in eine SQL-Datenbank hochgeladen werden können.
Entwicklungsingenieure können jetzt JMP verwenden, um Daten direkt aus SQL in einem für die Analyse bereiten Format herunterzuladen.
Die typische Zeit für die technische Analyse wurde um mehr als 85 % reduziert, aber was noch wichtiger ist, sie wird jetzt nur noch der Wertschöpfungsanalyse ohne intellektuelle Verschwendung gewidmet. Darüber hinaus wurde die Qualität der Analyse und Schlussfolgerung jetzt verbessert, wobei auch die Möglichkeit eines schnellen Vergleichs zwischen Produkten oder mit zuvor gesammelten Daten berücksichtigt wird.
