如果能够在 Process Screening 平台中使用比例/属性数据，即能够为平台选择 P 或 NP 图表行为，那就太好了。 我对工艺良率数据进行了很多工作，但还没有找到一种统计上合适的方法来以这种方式筛选一长串工艺。
