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使用移动范围规格限值和可变子组大小计算 Cpk

我正在尝试自动记录一些 Cpk。我有一个数据集，由不同的产品运行组成，每个运行产生 1-8 个样本。我可以从控制图平台获取 Cpk，但我想自动收集这些数据。如何使用移动极差作为 sigma 参数来计算这个？

质量与工艺工程

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计算 Cpk 的规格限制来自哪里？

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