我正在嘗試自動化一些 Cpk 記錄。我有一個由不同產品運行組成的資料集,每個產品運行產生 1-8 個樣本。我可以從控製圖平台取得 Cpk,但我想自動收集該資料。我如何用移動極差作為西格瑪參數來計算這個值?
計算 Cpk 的規格限制來自哪裡?
它們由我們的客戶指定