안녕하십니까 -
정렬이 필요한 많은 프로세스는 직사각형 공차 대신 표준 GDT 원형 위치 공차를 사용합니다. 따라서 예를 들어 +/-100미크론이 아닌 100미크론 반경의 정렬 허용 오차가 있는 경우가 많습니다. 이 데이터를 보는 가장 좋은 방법은 방사형 사양 제한이 있는 XY 산점도입니다. 별도의 X 및 Y 사양이 있는 사양 제한 사각형 대신 원으로 표시되는 사양이 있습니다. 이렇게 하면 정렬이 X 또는 Y(및 어느 방향)에서 꺼져 있는지 확인하고 사양에 얼마나 근접했는지 시각적으로 확인할 수 있습니다.
나는 JMP8에서 그 원을 만드는 것을 포기했고 다시는 그것에 대해 생각하지 않았습니다. 그런데 오늘 제가 교육을 받은 후 누군가 저에게 이런 질문을 하셨습니다. JMP16(또는 JMP17EA)에서 이 작업을 쉽게 수행할 수 있도록 하는 어떤 것도 알지 못하므로 커뮤니티에 옵니다. 트릭은 방사형 사양이 두 개의 열에 영향을 미친다는 것입니다.
지금 이 작업을 수행하는 쉬운 방법이 있습니까? 아니면 JSL을 사용하여 원을 그려야 합니까?
감사,
어치
JMP16/17EA
