Cheolsang Ahn TL, SKhynix
In Halbleitergeräten gibt es unzählige Parameter und jede Sekunde werden unzählige Daten erzeugt. Um solch große Datenmengen zu analysieren, sind ein komplizierter Vorverarbeitungsprozess, ein statistischer Ansatz und Analysetools zur Visualisierung erforderlich.
Durch die Verwendung von JSL können Sie alle Daten automatisch stapelweise statistisch analysieren und die Analyseergebnisse in einem einseitigen zusammenfassenden Bericht anzeigen. Hier ist ein Beispiel dafür, wie Ingenieure das JMP-Add-in entwickelt haben, um komplexe Analysen für jedermann einfach zu machen.