Ahn Cheol-sang TL, SKhynix
In Halbleiteranlagen gibt es viele Parameter, und unzählige Daten werden in Sekundenschnelle generiert. Um diese riesige Datenmenge zu analysieren, sind eine komplexe Vorverarbeitung, ein statistischer Ansatz und ein Analysetool erforderlich, das sie visualisieren kann.
Durch die Verwendung von JSL können alle Daten automatisch stapelweise statistisch analysiert werden, und die Analyseergebnisse können über den One Page Summary Report angezeigt werden. Hier ist ein Beispiel dafür, wie Ingenieure das JMP-Add-In entwickelt haben, um komplexe Analysen für jedermann einfach zu machen.
