Cheolsang Ahn TL, SKhynix
Il existe d'innombrables paramètres dans les équipements à semi-conducteurs et d'innombrables données sont créées chaque seconde. Afin d'analyser des données aussi vastes, un processus de prétraitement compliqué, une approche statistique et des outils d'analyse capables de les visualiser sont nécessaires.
En utilisant JSL, vous pouvez automatiquement analyser statistiquement toutes les données par lots et afficher les résultats de l'analyse via un rapport récapitulatif d'une page. Voici un exemple de la façon dont les ingénieurs ont développé le complément JMP pour faciliter l'analyse complexe pour tous.
