Ahn Cheol-sang TL, SKhynix
Il existe de nombreux paramètres dans les équipements à semi-conducteurs et d'innombrables données sont générées en quelques secondes. Afin d'analyser cette grande quantité de données, un processus de prétraitement complexe, une approche statistique et un outil d'analyse capable de les visualiser sont nécessaires.
En utilisant JSL, toutes les données peuvent être automatiquement analysées statistiquement par lots, et les résultats de l'analyse peuvent être affichés via le rapport récapitulatif d'une page. Voici un exemple de la manière dont les ingénieurs ont développé le complément JMP pour faciliter l'analyse complexe pour tous.
