Haut-parleurs: Vous Fangfang , Responsable du Département Qualité de Western Digital China Shanghai Co., Ltd.
Conférencier: Cindy vous , responsable qualité de Western Digital China (Shanghai) Co., Ltd.
le sujet du discours : Analyse commune et prédiction de la qualité de l'application des mégadonnées dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs
Sujet: Analyse des points communs dans les applications de fabrication des mégadonnées et évaluations prédictives de la qualité
Sommaire :
Dans le secteur manufacturier, nous avons toujours été préoccupés par les fluctuations des processus. Alors, qu'est-ce que la fluctuation de processus ? Quel type de fluctuations peut causer des problèmes de qualité ? Quelle fluctuation peut entraîner la défaillance d'un produit ? Le processus de fabrication des semi-conducteurs est complexe, et quel impact la superposition des fluctuations des processus avant et arrière apportera-t-elle ? Cet article présentera comment réaliser la concaténation des données de la plaquette à l'emballage jusqu'au test du produit fini sous l'infrastructure Big Data de l'usine, et l'application métier sur cette base. Comment identifier des paramètres clés parmi des dizaines, des centaines voire des milliers de variables d'entrée et les contrôler de manière ciblée, non seulement pour assurer la qualité, mais aussi pour réduire les coûts, telle est la difficulté et le point clé des processus technologiques complexes. L'analyse des points communs peut être d'une grande aide à ce stade, à la fois pour le diagnostic et pour la prédiction. Pour réaliser une analyse des points communs, nous devons prêter attention au processus de tri des données, de connexion des données, de sélection des algorithmes et d'analyse des résultats, et continuer à essayer et à vérifier. Nous avons choisi le logiciel d'analyse de données JMP pour nous y aider.
Résumé:
Dans l'industrie manufacturière, nous sommes toujours préoccupés par les fluctuations des processus. Que sont donc les fluctuations de processus ? Quels types de fluctuations entraîneront des problèmes de qualité ? Quel degré de volatilité entraînera des défaillances de produits ? Le processus de fabrication des semi-conducteurs est très complexe. Une fois ces fluctuations superposées au processus de fabrication, à quel genre de résultats peut-on s'attendre ? Ce texte présentera le processus de mise en œuvre de la connectivité des données du wafer au package jusqu'aux produits finis dans un cadre de big data industriel, ainsi que l'évaluation des applications métier sur cette base. Être capable d'identifier et de contrôler les paramètres clés parmi des dizaines, des centaines, voire des milliers de variables d'entrée tout en garantissant l'assurance qualité et des coûts réduits en même temps est une partie difficile - et essentielle - du flux de processus industriel complexe. L'analyse des points communs peut être très utile dans ce domaine, à des fins de diagnostic et de prédiction. Afin de permettre l'analyse des points communs, nous devons nous concentrer sur tous les domaines de ce processus, y compris la collecte de données, la connectivité des données, la sélection d'algorithmes et l'analyse des résultats. Le cycle se répète et s'itère ensuite, apportant des améliorations à chaque étape d'expérimentation et de validation. Nous avons choisi d'utiliser le logiciel d'analyse JMP pour nous aider à atteindre ces objectifs.
