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liliconcom

最近隣ウェーハマップ

やあ
特定の欠陥 (欠陥列) と 8 つの最近傍をフィルタリングし、メイン テーブルからデータをサブセット化することは可能ですか?

ありがとう

分析データ表Re: 最近隣ウェーハマップ

チェックアウトすることをお勧めします半導体ツールキット加える。 階層クラスタリングも機能する場合があります。 また、基本的に「何でも」実行できるスクリプトを実行するオプションも常にあります (KDTable() は良い出発点かもしれません。近傍平均の計算）。

Re: 最近隣ウェーハマップ

これは、最も近い隣接ダイを選択する JMP サンプル テーブルの Wafer Stacked データ テーブルを使用した例です。

names default to here(1);
dtMain =
// Open Data Table: Wafer Stacked.jmp
// → Data Table( "Wafer Stacked" )
Open( "$SAMPLE_DATA/Wafer Stacked.jmp" );
dtMain << set name("Main");
dtMain:X_Die << modeling type(Ordinal);
dtMain:Y_Die << modeling type(Ordinal);

// For illustration, use only Wafer 1 data
dtMain << select where( :Wafer == 1 & :Lot =="1" );
dtMain << invert row selection;
dtMain << delete rows;

// Create a separate data table that only has the die with defects in them
dtMain << select where( :Defects > 0 );
dtDefects = dtMain << subset( selected rows( 1 ), selected columns( 0 ),
output table( "Defects" ) );

// Remove the defects column from the main table
dtMain << delete columns( :Defects );

// Create a table with the nearest neighbor data from the main table, based upon one of the 
// defect die that has a defect in the defect table.
// For illustration we will pick the die in the Defect table in row
DefectRow = 1;

dtMain << select where( dtMain:X_Die >= dtDefects:X_Die[DefectRow] - 1 & 
dtMain:X_Die <= dtDefects:X_Die[DefectRow] + 1
 &
dtMain:Y_Die >= dtDefects:Y_Die[DefectRow] - 1 & dtMain:Y_Die <= dtDefects:Y_Die[DefectRow] + 1 
);

dtNear = dtMain << subset( selected rows( 1 ), selected columns( 0 ),
output table( "Nearest" ) );

// Display the selected die
dtNear << Graph Builder(
 Size( 512, 448 ),
 Show Control Panel( 0 ),
 Variables( X( :X_Die ), Y( :Y_Die ) ),
 Elements( Points( X, Y, Legend( 5 ) ) )
);

 

Re: 最近隣ウェーハマップどうもありがとうございました