在 FDE 中計算和監控與目標的綜合差異隨時間監控曲線形狀的一種方法是使用與目標曲線之差的根積分函數平方。現在要做到這一點，您必須 1) 將函數模型擬合到目標函數 2) 使用函數摘要保存公式 3) 將公式複製到原始表 3) 創建差分公式 4) 將模型擬合到差異5) 將函數模型擬合到差異和 6) 將根集成函數平方與摘要一起保存 7) 創建根集成函數平方的控製圖。
如果 FDE 在加載目標曲線時執行這些步驟，將節省時間和精力。控製圖可以包含在功能總結報告中。
統計和分析回复：計算和監控與 FDE 中目標的綜合差異該建議來自對再生元 JMP 日所使用數據的討論。在製藥行業，FDA 的過程驗證指南包括持續過程驗證，以確保過程保持在經過驗證的狀態。換句話說，如果該過程包括曲線，您可以在常規商業製造期間監控曲線，並確保在驗證過程中曲線沒有偏移或漂移。
回复：計算和監控與 FDE 中目標的綜合差異這也是現代半導體工廠的一項重要技術。 它們在處理步驟期間監控工具參數軌跡並將其與參考進行比較。
