使用 JMP® 中的第二代質量工具的集成過程改進方法勞拉蘭開斯特, 博士, JMP 首席研究統計學家開發人員, SAS
克里斯·戈特沃爾特, 博士, JMP 統計研究與開發總監, SAS
JMP 中的第二代質量工具——控製圖生成器、測量系統分析和過程能力——採用綜合理念設計，使質量分析更容易、更有效。 例如，測量系統分析平台中的 Shift Detection Profiler 允許質量工程師就如何設計他們的控製圖方法做出明智的決定，同時考慮到他們的測量系統，以便盡快提醒他們處理變化。 同樣，JMP 12 中的新過程能力平台旨在反映統計過程控製程序中使用的控製圖類型，並在控製圖生成器中添加了能力報告。 了解您的測量系統、統計過程控製程序和過程能力評估如何結合在一起是提高和保持質量的關鍵。 該軟件獨特的設計理念使其簡單明了。 這種綜合過程改進方法將通過使用 JMP 12 中的質量工具進行的製造研究得到證明。
質量和可靠性回复：在 JMP® 中使用第二代質量工具的集成過程改進方法<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />你好，
我同意，很高興您開發了質量和流程改進工具。
如果沒有伴隨的可視化，它似乎沒有它應該的那麼有用。
問候
大衛·塔克
回复：在 JMP® 中使用第二代質量工具的集成過程改進方法我喜歡這裡提出的中心思想，也喜歡你諮詢了很棒的唐·惠勒！
以及您在質量工具平台上所做的改進 - 太棒了！
如果可以的話，這將意味著很多包括圖表和 JMP截圖支持案例研究簡報甲板。
- 蘭迪，JMP 新手
