(18Aug2019) - 作者的註釋
大家好！ 是時候開始考慮新版本的 STK 了…… 我有一些我想做的事情，但我也想听聽那些使用該工具的人的意見。 如果您沒有看到或認為有什麼可以改進的，請給我私信。 我確實計劃查看評論部分作為健全性檢查，但我可能會錯過一些東西。 所以，如果很重要，請給我發私信。
半導體工具包（第 2 版）
半導體工具包旨在滿足半導體行業對現有 JMP 功能的專業可視化和重構的需求。在其初始版本中，該工具包包含用於生成圖案化和非圖案化晶圓圖、使用晶圓幾何圖形註釋現有圖形以及具有空間測量選項的分層聚類的半導體特定前端的工具。 它現在已經擴展到包括用於探索芯片缺陷數據的分析方法，在晶圓之間進行比較，以及用戶社區提供的一系列工具和實用程序。 該工具包旨在成為相關各方的協作和活生生的努力。歡迎和鼓勵建設性的批評、錯誤報告和功能建議。
系統要求
該插件適用於 JMP 和 JMP Pro 版本 12 及更新版本。該插件將檢查它被添加到的 JMP 版本，並僅顯示該安裝中可用的方法。
更新
- (2016-08-22) 版本 1 發布。
- (2016-11-03) 更正了由@ragnarl .
- (2016-10-14) 添加了關於下一個版本的註釋，以對應新社區站點的啟動
- (2016-09-26) 添加了每個工具的屏幕截圖和說明。
- (2017-11-01) 第 2 版發布。 嗯，這比預期的要長……它代表了對插件的徹底改造。 添加了許多新工具，包括用於處理圖案化晶圓的晶圓圖的工具以及將晶圓圖與不同採樣模式進行比較的方法。 在後台，該應用程序在 JMP Application Builder 中完全重寫。 我還對原始插件中的許多方法進行了標準化，以確保跨平台的性能一致。 還包括適當的幫助手冊，並將在時間允許的情況下進行擴展。
- (2018-02-15) 修復了初始版本中的幾個錯誤。
- (2018-02-23) 錯誤修復。
- (2019-09-24) 修復了幾個錯誤（一個與將 JMP 與非英語語言一起使用和一個為 JMP 15 版本做準備的問題有關）。
- (2020-01-12) 修復了快速圖案化地圖功能中的“yval”錯誤。
工具
註釋工具將晶圓標記和排除邊添加到同一窗口中的現有圖形或圖形系列。如果模具幾何形狀已知，則還可以添加模具佈局的標記。
映射工具集 > 圖案化晶圓圖使用裸片索引和響應變量來生成圖案化晶圓圖。 該平台還提供晶圓圖的匯總統計功能。
映射工具集 > 裸晶圓映射使用坐標信息和響應變量來創建裸晶圓圖。該工具提供有關所用平滑算法的擬合質量的信息。該工具目前支持神經網絡模型 - JMP 中的一種類型和 JMP Pro 中的兩種類型。
映射工具集 > 使用幾何為 JMP 創建形狀文件以在圖形生成器平台中使用。由於 IT 策略的差異，這些文件是在用戶的桌面上生成的，並留給用戶將這些文件移動到文件系統中的正確位置。這些位置可以在 JMP 13 書籍“Essential Graphing”的第 308 頁上找到。 這本書包含在 JMP 安裝中，可以在 JMP 中的幫助 > 書籍 > 基本繪圖下找到。
映射工具集 > 使用步進映射為 JMP 創建形狀文件以在 Graph Builder 平台中與 Wafer Map Generator 一起使用。該工具使用坐標表來生成地圖。 與幾何工具一樣，請參閱 JMP 文檔以了解如何將生成的文件與 Graph Builder 一起使用
映射工具集 > 使用模具索引使用芯片索引表來生成近似的晶圓圖形狀文件。 與幾何工具一樣，請參閱 JMP 文檔以了解如何將生成的文件與 Graph Builder 一起使用。
分析工具集 > 聚類缺陷是層次聚類平台的前端，使用了空間度量選項。該前端將層次聚類平台中使用的通用術語重新定義為半導體行業更熟悉的術語。
分析工具集 > 探索模式數據生成支持探索分箱和測試數據的報告。 它提供與圖案化晶圓圖工具相同的匯總統計數據，並具有額外的向下鑽取功能。
分析工具集 > 比較晶圓圖比較具有不同採樣模式的兩個晶圓圖， IE，同一工具或工藝上的不同產品。
實用工具工具箱 > 附加表格限制是工具的一個端口@txnelson . 可以找到其使用的詳細文檔這裡.
