(18Aug2019) - 作者的注释
大家好！ 是时候开始考虑新版本的 STK 了…… 我有一些我想做的事情，但我也想听听那些使用该工具的人的意见。 如果您没有看到或认为有什么可以改进的，请给我私信。 我确实计划查看评论部分作为健全性检查，但我可能会错过一些东西。 所以，如果很重要，请给我发私信。
半导体工具包（第 2 版）
半导体工具包旨在满足半导体行业对现有 JMP 功能的专业可视化和重构的需求。在其初始版本中，该工具包包含用于生成图案化和非图案化晶圆图、使用晶圆几何图形注释现有图形以及具有空间测量选项的分层聚类的半导体特定前端的工具。 它现在已经扩展到包括用于探索芯片缺陷数据的分析方法，在晶圆之间进行比较，以及用户社区提供的一系列工具和实用程序。 该工具包旨在成为相关各方的协作和活生生的努力。欢迎和鼓励建设性的批评、错误报告和功能建议。
系统要求
该插件适用于 JMP 和 JMP Pro 版本 12 及更新版本。该插件将检查它被添加到的 JMP 版本，并仅显示该安装中可用的方法。
更新
- (2016-08-22) 版本 1 发布。
- (2016-11-03) 更正了由@ragnarl .
- (2016-10-14) 添加了关于下一个版本的注释，以对应新社区站点的启动
- (2016-09-26) 添加了每个工具的屏幕截图和说明。
- (2017-11-01) 第 2 版发布。 嗯，这比预期的要长……它代表了对插件的彻底改造。 添加了许多新工具，包括用于处理图案化晶圆的晶圆图的工具以及将晶圆图与不同采样模式进行比较的方法。 在后台，该应用程序在 JMP Application Builder 中完全重写。 我还对原始插件中的许多方法进行了标准化，以确保跨平台的性能一致。 还包括适当的帮助手册，并将在时间允许的情况下进行扩展。
- (2018-02-15) 修复了初始版本中的几个错误。
- (2018-02-23) 错误修复。
- (2019-09-24) 修复了几个错误（一个与将 JMP 与非英语语言一起使用和一个为 JMP 15 版本做准备的问题有关）。
- (2020-01-12) 修复了快速图案化地图功能中的“yval”错误。
工具
注释工具将晶圆标记和排除边添加到同一窗口中的现有图形或图形系列。如果模具几何形状已知，则还可以添加模具布局的标记。
映射工具集 > 图案化晶圆图使用裸片索引和响应变量来生成图案化晶圆图。 该平台还提供晶圆图的汇总统计功能。
映射工具集 > 裸晶圆映射使用坐标信息和响应变量来创建裸晶圆图。该工具提供有关所用平滑算法的拟合质量的信息。该工具目前支持神经网络模型 - JMP 中的一种类型和 JMP Pro 中的两种类型。
映射工具集 > 使用几何为 JMP 创建形状文件以在图形生成器平台中使用。由于 IT 策略的差异，这些文件是在用户的桌面上生成的，并留给用户将这些文件移动到文件系统中的正确位置。这些位置可以在 JMP 13 书籍“Essential Graphing”的第 308 页上找到。 这本书包含在 JMP 安装中，可以在 JMP 中的帮助 > 书籍 > 基本绘图下找到。
映射工具集 > 使用步进映射为 JMP 创建形状文件以在 Graph Builder 平台中与 Wafer Map Generator 一起使用。该工具使用坐标表来生成地图。 与几何工具一样，请参阅 JMP 文档以了解如何将生成的文件与 Graph Builder 一起使用
映射工具集 > 使用模具索引使用芯片索引表来生成近似的晶圆图形状文件。 与几何工具一样，请参阅 JMP 文档以了解如何将生成的文件与 Graph Builder 一起使用。
分析工具集 > 聚类缺陷是层次聚类平台的前端，使用了空间度量选项。该前端将层次聚类平台中使用的通用术语重新定义为半导体行业更熟悉的术语。
分析工具集 > 探索模式数据生成支持探索分箱和测试数据的报告。 它提供与图案化晶圆图工具相同的汇总统计数据，并具有额外的向下钻取功能。
分析工具集 > 比较晶圆图比较具有不同采样模式的两个晶圆图， IE，同一工具或工艺上的不同产品。
实用工具工具箱 > 附加表格限制是工具的一个端口@txnelson . 可以找到其使用的详细文档这里.
