(2019년 8월 18일) - 저자의 메모
안녕, 모두! STK의 새 버전에 대해 생각할 시간입니다... 하고 싶은 것도 있지만 도구를 사용하는 분들의 의견도 듣고 싶습니다. 보이지 않거나 개선할 수 있다고 생각되는 것이 있으면 개인 메시지를 보내주세요. 나는 온전한 검사로 코멘트 섹션을 살펴볼 계획이지만, 뭔가를 놓칠 수 있습니다. 그래서, 중요하다면 저에게 개인 메시지를 보내주십시오.
반도체 툴킷(버전 2)
Semiconductor Toolkit은 기존 JMP 기능의 전문화된 시각화 및 재구성에 대한 반도체 산업의 요구에 응답하려는 시도입니다.초기 릴리스에서 이 툴킷에는 패턴이 있는 웨이퍼 맵과 패턴이 없는 웨이퍼 맵을 생성하기 위한 도구, 웨이퍼 기하학으로 기존 그래픽에 주석을 달기 위한 도구, 공간 측정 옵션이 있는 계층적 클러스터링에 대한 반도체 특정 프론트엔드가 포함되어 있습니다. 이제 다이 결함 데이터를 탐색하고 웨이퍼를 비교하는 분석 방법, 사용자 커뮤니티에서 제공하는 도구 및 유틸리티 모음을 포함하도록 확장되었습니다. 이 툴킷은 이해 관계자가 공동 작업을 수행할 수 있도록 고안되었습니다.건설적인 비판, 버그 보고서 및 기능 제안을 환영하고 권장합니다.
시스템 요구 사항
추가 기능은 JMP 및 JMP Pro 버전 12 이상용입니다.추가 기능은 추가 중인 JMP 버전을 확인하고 해당 설치에서 사용할 수 있는 방법만 표시합니다.
업데이트
- (2016-08-22) 버전 1이 출시되었습니다.
- (2016-11-03) 님이 발견한 버그 수정 @ragnarl .
- (2016-10-14) 새로운 커뮤니티 사이트 런칭에 맞춰 다음 릴리스에 대한 메모 추가
- (2016-09-26) 각 도구에 대한 스크린샷과 설명을 추가했습니다.
- (2017-11-01) 버전 2가 출시되었습니다. 글쎄요, 예상보다 오래 걸렸습니다...이는 추가 기능의 완전한 점검을 나타냅니다. 패턴화된 웨이퍼의 웨이퍼 맵을 처리하는 도구와 웨이퍼 맵을 다른 샘플링 패턴과 비교하는 방법을 포함하여 여러 가지 새로운 도구가 추가되었습니다. 내부적으로 애플리케이션은 JMP Application Builder에서 완전히 다시 작성되었습니다. 또한 플랫폼 전체에서 일관된 성능을 보장하기 위해 원래 추가 기능의 많은 방법을 표준화했습니다. 적절한 도움말 설명서도 포함되어 있으며 시간이 허락하는 대로 확장될 것입니다.
- (2018-02-15) 초기 릴리스에서 몇 가지 버그를 수정했습니다.
- (2018-02-23) 버그 수정.
- (2019-09-24) 몇 가지 버그를 수정했습니다(JMP를 영어가 아닌 언어로 사용하는 것과 관련된 것과 JMP 15 릴리스를 준비하는 것과 관련된 문제).
- (2020-01-12) 빠른 패턴 맵 기능의 "yval" 버그를 수정했습니다.
도구들
주석 도구 동일한 창에 있는 기존 그래프 또는 일련의 그래프에 웨이퍼 및 제외 에지에 대한 마커를 추가합니다.다이 지오메트리가 알려진 경우 다이 레이아웃에 대한 마커도 추가할 수 있습니다.
매핑 도구 세트 > 패턴 웨이퍼 맵 다이 인덱스와 응답 변수를 사용하여 패턴화된 웨이퍼 맵을 생성합니다. 플랫폼은 웨이퍼 맵에 대한 요약 통계 기능도 제공합니다.
매핑 도구 세트 > 베어 웨이퍼 맵 베어 웨이퍼 맵을 생성하기 위해 좌표 정보와 응답 변수를 사용합니다.이 도구는 사용된 평활 알고리즘에 대한 맞춤 품질에 대한 정보를 제공합니다.이 도구는 현재 신경망 모델을 지원합니다. JMP의 한 가지 유형과 JMP Pro의 두 가지 유형입니다.
매핑 도구 세트 > 지오메트리 사용 그래프 빌더 플랫폼에서 사용할 JMP용 모양 파일을 생성합니다.IT 정책의 차이로 인해 파일은 사용자의 데스크탑에 생성되며 이러한 파일을 파일 시스템의 올바른 위치로 이동하는 것은 사용자에게 맡겨집니다.이러한 위치는 JMP 13 책 "Essential Graphing"의 308페이지에서 찾을 수 있습니다. 이 책은 JMP 설치에 포함되어 있으며 JMP의 도움말 > 책 > 필수 그래프에서 찾을 수 있습니다.
매핑 도구 세트 > 스테퍼 맵 사용 웨이퍼 맵 생성기와 마찬가지로 그래프 빌더 플랫폼에서 사용할 JMP용 모양 파일을 생성합니다.이 도구는 좌표 테이블을 사용하여 지도를 생성합니다. Geometry Tool과 마찬가지로 Graph Builder에서 생성된 파일을 사용하는 방법은 JMP 설명서를 참조하십시오.
매핑 도구 세트 > 다이 인덱스 사용 다이 인덱스 테이블을 사용하여 대략적인 웨이퍼 맵 shapefile을 생성합니다. Geometry Tool과 마찬가지로 Graph Builder에서 생성된 파일을 사용하는 방법은 JMP 설명서를 참조하십시오.
분석 도구 세트 > 클러스터 결함 공간 측정 옵션이 사용된 계층적 클러스터링 플랫폼의 프런트 엔드입니다.이 프런트 엔드는 계층적 클러스터링 플랫폼에서 사용되는 일반적인 용어를 반도체 산업에 더 친숙한 용어로 재구성합니다.
분석 도구 세트 > 패턴화된 데이터 탐색 구간화 및 테스트 데이터 탐색을 지원하는 보고서를 생성합니다. 추가 드릴다운 기능이 있는 Patterned Wafer Map 도구와 동일한 요약 통계를 제공합니다.
분석 도구 세트 > 웨이퍼 맵 비교 샘플링 패턴이 서로 다른 두 웨이퍼 맵을 비교하고, 즉, 동일한 도구 또는 프로세스에서 다른 제품.
유틸리티 도구 상자 > 테이블 제한 연결 는 도구의 포트입니다. @txnelson . 사용에 대한 자세한 문서를 찾을 수 있습니다. 여기 .
