(2019 年 8 月 18 日) - 著者からのメモ
こんにちは、みんな！ STK の新しいバージョンについて考え始める時が来ました... やりたいことはありますが、ツールを使っている方の声も聞きたいです。 わからない点や改善の余地があると思われる点がある場合は、私にプライベート メッセージを送信してください。 健全性チェックとしてコメント セクションを確認する予定ですが、見落としがある可能性があります。 だから、もしそれが重要なら、私に個人的なメッセージを送ってください。
半導体ツールキット (バージョン 2)
半導体ツールキットは、特殊な視覚化と既存の JMP 機能の再構成に対する半導体業界のニーズに応える試みです。最初のリリースでは、ツールキットには、パターン化されたおよびパターン化されていないウェーハ マップを生成するためのツール、既存のグラフィックスにウェーハ ジオメトリで注釈を付けるためのツール、および空間測定オプションを使用した階層的クラスタリングへの半導体固有のフロントエンドが含まれていました。 現在は、ダイの欠陥データの調査、ウェーハ間の比較、およびユーザー コミュニティによって提供されたツールとユーティリティのコレクションを作成するための分析方法が含まれるように拡張されています。 このツールキットは、利害関係者による協力的で生きた取り組みとなることを意図しています。建設的な批判、バグ報告、および機能の提案は歓迎され、奨励されます。
