(18 agosto 2019) - Una nota dell'autore
Ciao a tutti! È ora di iniziare a pensare a una nuova versione della STK... Ho alcune cose che mi piacerebbe fare, ma voglio anche sentire chi usa lo strumento. Se c'è qualcosa che non vedi o pensi possa essere migliorato, mandami un messaggio privato. Ho intenzione di esaminare la sezione dei commenti come controllo di integrità, ma potrei perdermi qualcosa. Quindi, se è importante, mandami un messaggio privato.
IL TOOLKIT SEMICONDUTTORE (VERSIONE 2)
Il Semiconductor Toolkit è un tentativo di rispondere all'esigenza dell'industria dei semiconduttori di visualizzare visualizzazioni specializzate e riformulare le capacità JMP esistenti.Nella sua versione iniziale, il toolkit conteneva strumenti per generare mappe di wafer modellate e non, annotare la grafica esistente con la geometria del wafer e un'interfaccia specifica per semiconduttori per l'opzione Clustering gerarchico con misure spaziali. È stato ora ampliato per includere metodi analitici per esplorare i dati sui difetti degli stampi, effettuare confronti tra wafer e una raccolta di strumenti e utilità forniti dalla comunità degli utenti. Il toolkit vuole essere uno sforzo collaborativo e vitale delle parti interessate.Critiche costruttive, segnalazioni di bug e suggerimenti sulle funzionalità sono i benvenuti e incoraggiati.
REQUISITI DI SISTEMA
Il componente aggiuntivo è per la versione 12 e successive di JMP e JMP Pro.Il componente aggiuntivo verificherà a quale versione di JMP viene aggiunto e mostrerà solo i metodi disponibili su tale installazione.
AGGIORNAMENTI
- (2016-08-22) Versione 1 rilasciata.
- (03-11-2016) Bug corretti trovati da @ragnarl .
- (14-10-2016) Aggiunta una nota sulla prossima versione in corrispondenza del lancio del nuovo sito della community
- (26-09-2016) Aggiunti screenshot e descrizioni per ogni strumento.
- (01-11-2017) Rilasciata la versione 2. Ebbene, ci è voluto più tempo del previsto...Rappresenta una revisione completa del componente aggiuntivo. Sono stati aggiunti numerosi nuovi strumenti, inclusi strumenti per la gestione delle mappe di wafer per wafer modellati e metodi per confrontare le mappe di wafer con modelli di campionamento dissimili. Sotto il cofano, l'applicazione è stata completamente riscritta in JMP Application Builder. Ho anche standardizzato molti dei metodi nel componente aggiuntivo originale per garantire prestazioni coerenti su tutte le piattaforme. È incluso anche un manuale di aiuto adeguato che verrà ampliato man mano che il tempo lo consente.
- (15-02-2018) Risolti un paio di bug nella versione iniziale.
- (2018-02-23) Correzione di bug.
- (2019-09-24) Risolti un paio di bug (uno relativo all'utilizzo di JMP con lingue diverse dall'inglese e un problema in preparazione per la versione JMP 15).
- (12-01-2020) Risolto il bug "yval" nella funzione mappa rapida con motivi.
GLI ATTREZZI
Strumento di annotazione aggiunge i marcatori per il wafer e gli spigoli di esclusione a un grafico esistente o a una serie di grafici nella stessa finestra.Se la geometria della matrice è nota, è possibile aggiungere anche marcatori per il layout della matrice.
Set di strumenti di mappatura > Mappa di wafer con motivi utilizza gli indici dei die e una variabile di risposta per generare una mappa di wafer modellata. La piattaforma fornisce anche funzionalità statistiche riassuntive per la mappa dei wafer.
Set di strumenti di mappatura > Mappa di wafer nudi utilizza le informazioni sulle coordinate e una variabile di risposta per creare una mappa wafer nuda.Lo strumento fornisce informazioni sulla qualità dell'adattamento per l'algoritmo di smoothing utilizzato.Lo strumento attualmente supporta i modelli di rete neurale: un tipo in JMP e due tipi in JMP Pro.
Set di strumenti di mappatura > Usa geometria crea file di forma per JMP da utilizzare nella piattaforma Graph Builder.A causa delle differenze nei criteri IT, i file vengono generati sul desktop dell'utente e spetta all'utente spostare questi file nella posizione corretta nel file system.Queste posizioni possono essere trovate a pagina 308 nel libro JMP 13 "Essential Graphing". Questo libro è incluso nell'installazione di JMP e può essere trovato in Guida > Libri > Essential Graphing in JMP.
Set di strumenti di mappatura > Usa mappa stepper crea file di forma per JMP da utilizzare nella piattaforma Graph Builder come con Wafer Map Generator.Questo strumento utilizza una tabella di coordinate per generare la mappa. Come con lo strumento Geometry, vedere la documentazione JMP per come utilizzare i file generati con Graph Builder
Set di strumenti di mappatura > Usa indice fustella utilizza una tabella di indici di die per generare shapefile approssimativi della mappa dei wafer. Come con lo strumento Geometry, vedere la documentazione JMP per come utilizzare i file generati con Graph Builder.
Set di strumenti di analisi > Difetti del cluster è un front-end per la piattaforma di clustering gerarchico con l'opzione delle misure spaziali utilizzata.Questo front-end riformula i termini generali utilizzati nella piattaforma di clustering gerarchico in termini più familiari all'industria dei semiconduttori.
Set di strumenti di analisi > Esplora dati modellati genera un report che supporta l'esplorazione dei dati di binning e test. Fornisce le stesse statistiche di riepilogo dello strumento Patterned Wafer Map con funzionalità di drill-down aggiuntive.
Set di strumenti di analisi > Confronta mappe wafer confronta due mappe di wafer con pattern di campionamento dissimili, cioè, prodotti diversi sullo stesso strumento o processo.
Strumenti di utilità Casella degli strumenti > Allega limiti tabella è un port dello strumento di @txnelson . È possibile trovare una documentazione dettagliata per il suo utilizzo qui .
