(18.08.2019) - Eine Anmerkung des Autors
Hallo alle! Es ist an der Zeit, über eine neue Version des STK nachzudenken... Ich habe einige Dinge, die ich gerne tun würde, aber ich möchte auch von denen hören, die das Tool verwenden. Wenn Sie etwas nicht sehen oder für verbesserungswürdig halten, schreiben Sie mir eine private Nachricht. Ich habe vor, den Kommentarbereich als Plausibilitätsprüfung durchzusehen, aber ich könnte etwas übersehen. Also, wenn es wichtig ist, schick mir eine private Nachricht.
DAS HALBLEITER-TOOLKIT (VERSION 2)
Das Semiconductor Toolkit ist ein Versuch, den Bedarf der Halbleiterindustrie an spezialisierten Visualisierungen und Reframings bestehender JMP-Funktionen zu decken.Bei seiner ersten Veröffentlichung enthielt das Toolkit Werkzeuge zum Generieren von gemusterten und ungemusterten Waferkarten, Kommentieren vorhandener Grafiken mit Wafergeometrie und ein halbleiterspezifisches Frontend für das hierarchische Clustering mit Option für räumliche Messungen. Es wurde nun um Analysemethoden zur Untersuchung von Die-Defektdaten, Vergleiche zwischen Wafern und eine Sammlung von Tools und Dienstprogrammen erweitert, die von der Benutzergemeinschaft beigesteuert wurden. Das Toolkit soll eine kollaborative und lebendige Anstrengung von interessierten Parteien sein.Konstruktive Kritik, Fehlerberichte und Vorschläge zu Fähigkeiten sind willkommen und erwünscht.
